| 研究課題/領域番号 |
19560843
|
|---|
| 研究機関 | 大阪大学 |
|---|
研究代表者 |
誉田 義英 大阪大学, 産業科学研究所, 准教授 (40209333)
|
|---|
| 研究分担者 |
木村 徳雄 大阪大学, 産業科学研究所, 助教 (80195370)
西嶋 茂宏 大阪大学, 大学院・工学研究科, 教授 (00156069)
秋山 庸子 大阪大学, 大学院・工学研究科, 助教 (50452470)
|
|---|
| キーワード | 陽電子 / 角相関 / AMOC / 燃料電池 / 電解質膜 / 劣化 |
|---|
| 研究概要 |
これまで電解質膜におけるプロトン伝導性の劣化を調べる目的で、陽電子寿命と消滅ν線光電ピークのドップラー拡がり測定を同時に行なう計測手法(AMOC法)で測定を行ってきた結果、どこで陽電子が消滅しているかをより詳しく知ることが非常に重要な事柄となってきている。本年度はAMOC法でこれまで利用してきたドップラーシフトを測定する方法に比べ、より高精度の結果が得られる角相関測定を用いるAMOC測定系の検討・構築、及びNafion等の電解質膜に対し数値計算による電子状態の解析を行うことを計画し、また、これまでの実験も継続しデータを蓄積を行うことにした。
本研究ではドップラー拡がり測定に代わり、角相関測定系をもつAMOCシステムを構築することになる。角相関測定に用いるシンチレータの厚さは薄ければ時間分解能、空間分解能は向上するが計数効率が減少し、計測に多くの時間を要することになるので、適当な厚さを決めることが重要である。このためモンテカルロ計算を行い、BaF_2シンチレータの厚さに対しの検討を行い、1インチ程度が適当であることを見出した。またこれに従いシンチレータの発注も行った。また、これにともない分解能測定に対し優位性を持たせるためには少なくとも、試料から検出器までの距離を1m以上離す必要があることがわかった。一方、電解質膜の内での陽電子の消滅過程を調べるため、分子軌道計算プログラムのMOPACを用いてNafionやPEEK、SPEEK等に対し数値計算を行い、これまで測定してきているSパラメータとの関係を調べ、陽電子の消滅過程に関し検討を行った。ここで用いたSPEEKは我々で合成したものであり、今後これを用いて研究を進める予定である。
|
