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2008 年度 実績報告書

シリコンマイクロ構造体の高信頼化に資する表面酸化反応疲労現象の解明

研究課題

研究課題/領域番号 19676002
研究機関京都大学

研究代表者

土屋 智由  京都大学, 工学研究科, 准教授 (60378792)

キーワード単結晶シリコン / MEMS / 力学特性 / 引張試験 / 腐食疲労 / 高温試験 / 二酸化シリコン / 酸素析出欠陥
研究概要

(1) 表面酸化シリコン試験片の強度,疲労特性の評価
単結晶シリコンの疲労破壊に重要な役割を果たすと予想される表面酸化層について,酸化膜厚と強度の関係を調べている.酸化による強度の変動が観察されたのでこれを考察した.強度の変動のメカニズムとしては表面の加工粗さが酸化によって減少することによる強度向上や酸化膜の増加により,表面酸化膜における亀裂発生プロセスの変化による強度変化などを予測して実験を行った.現状では酸化プロセスにおいてシリコン内部に生成する欠陥が強度の変動に影響を及ぼしていることが推察されており,現在陽極酸化や堆積法による酸化膜の形成を試みている.
(2) 高温引張強度の評価
開発中の高温薄膜引張試験装置は赤外線加熱装置を用い試験片部のみを短時間で加熱可能であり,石英部品などを用いた熱絶縁と静電チャック法による試験片の固定によって高温試験を実現している.本年度の改良で試験片部の温度の均一性が向上し,その状態で600℃で試験が可能になった.単結晶シリコンの引張試験を実施し,強度,ヤング率の温度依存性について評価した.
(3) 真空中マイクロ材料引張試験装置の開発
試験雰囲気をさらに広い範囲で制御することを目的とし,装置を真空容器内に作製しガス置換した環境下で試験可能な装置を製作した.単結晶シリコン試験片について引張試験を行い,大気中と真空中で強度に差があることを見出した.また,酸化膜の試験方法について検討した.

  • 研究成果

    (11件)

すべて 2009 2008 その他

すべて 雑誌論文 (4件) (うち査読あり 4件) 学会発表 (6件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Design and fabrication of differential capacitive three-axis SOI accelerometer using vertical comb2009

    • 著者名/発表者名
      T. Tsuchiya
    • 雑誌名

      IEET Transactions on Electrical and Electronic Engineering 4

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Effects anisotropic elasticity on stress concentration in micro mechanical structures fabrieated on (001) single-crystal silicon films2009

    • 著者名/発表者名
      T. kehara
    • 雑誌名

      Journal of Applied Physics 4

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Air Damping in a Fan-Shaped Rotational Resonator with Comb Electrodes2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Uchida
    • 雑誌名

      IEEJ Transaction on Sensors and Micromachines 128-E

      ページ: 203-208

    • 査読あり
  • [雑誌論文] High-cycle fatigue of micromachined single-crystal silicon measured using high-resolution patterned2008

    • 著者名/発表者名
      T. Ikehara
    • 雑誌名

      Journal of Micromechanics and Microengineering 18

      ページ: 075004

    • 査読あり
  • [学会発表] Abusitripic analysis of stress concentration in a single-crystal-silicon MEMS structure2008

    • 著者名/発表者名
      T. Ikehara
    • 学会等名
      21th International Microprocesses and Nanotechnology Conference
    • 発表場所
      福岡
    • 年月日
      20081027-20081030
  • [学会発表] 単結晶シリコンの曲げ試験における結晶異方性の効果2008

    • 著者名/発表者名
      池原毅
    • 学会等名
      日本機械学会2008年度年次大会
    • 発表場所
      横浜国立大学
    • 年月日
      20080803-20080807
  • [学会発表] 単結晶シリコン引張試験における表面酸化の影響評価2008

    • 著者名/発表者名
      土屋智由
    • 学会等名
      日本機械学会2008年度年次大会
    • 発表場所
      横浜国立大学
    • 年月日
      20080803-20080307
  • [学会発表] Y-axiis vibrating SOI gyroscope using vertical. comb electrodes2008

    • 著者名/発表者名
      H. Hamaguchi
    • 学会等名
      The 4th Asia Pacific Conference on Transducers and Micro/Nano Technologies
    • 発表場所
      Tainan, Taiwan
    • 年月日
      20080623-20080626
  • [学会発表] 単結晶シリコンMEMSデバイスの破壊と疲労2008

    • 著者名/発表者名
      土屋智由
    • 学会等名
      応用物理学会結晶工学分科会第129回研究会
    • 発表場所
      京都
    • 年月日
      2008-07-02
  • [学会発表] Accelerated lifetime test method for structural materials in MEMS devices using resonant vibration2008

    • 著者名/発表者名
      T. Tsuchiya
    • 学会等名
      Korea-Japan-China MEMS Standardization Workshop 2008
    • 発表場所
      東京
    • 年月日
      2008-06-20
  • [備考] 研究室ホームページ

    • URL

      http://www.nms.me.kyoto-u.ac.jp

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公開日: 2010-06-11   更新日: 2016-04-21  

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