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本年度は1)二光子光電子による磁気円二色性(MCD)の研究、2)二光子MCDによる光電子顕微鏡(PEEM)の観測を行った。
1) 二光子MCDではCu(001)上に成長させたNi薄膜(12層)でMCD非対称性の仕事関数依存性を測定した。仕事関数はCsを蒸着して、変更した。二光子MCDは光電子閾値付近で高くなる。仕事関数を更に低くするとMCDはゼロへと近づき、符号が反転する。これは1光子MCDの結果とよく似ている。この研究で2光子MCDが発生することを世界で初めて実証した。
2) 二光子MCDを利用したPEEM測定。
1)の実験で2光子MCDが得られることがわかったので、同じ条件でPEEM測定をした。ここでは二光子MCD-PEEM像が得られ、1%程度のMCDであった。磁区ははっきりと観測できた。しかし、強いレーザーを入射したため、散乱効果が強く現れ、MCDによる磁気ドメイン観測と重なって表れた。より清浄で均一な表面を作成すれば、散乱の問題はなくなると考えている。
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