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2007 年度 実績報告書

フォールスパス自動検出および過剰テスト緩和の合成システムに関する研究

研究課題

研究課題/領域番号 19700045
研究機関早稲田大学

研究代表者

史 又華  早稲田大学, 理工学術院, 助手 (70409655)

キーワード設計自動化システム / フォールスパス解析 / システムLSIテスト / テスト設計 / テストアーキテクチャ / タイミング解析 / 合成システム / 過剰テスト
研究概要

平成19年度の主な研究成果を以下に示す。
(1) 「フォールスパス自動検出システム」に関する研究開発
タイミングを重視した設計フローの中で、実用的なフォールスパス解析が自動で実現させる技術を開発することが目標である。平成19年度では、フォールスパス解析に関する研究を調査して、自動検出システムの開発を行ってきた。構築したフォールスパス自動検出システムを様々なサンプルRTLレベルVerilogHDLに適用され、フォールスパス検出機能の効果が確認できて、精度・有効性を評価された。
(2) 「次世代システムLSI向けのテスト設計手法」に関する研究
次世代システムLSIを対象に、設計の品質・効率を向上させると共に、新たなテスト設計手法に関する研究を行った。具体的には、(i)システムLSI向け低コストと高いテストの品質を両立させるテスト手法を提案した。研究結果として、テストの品質を保証することで、最先端のスキャンテスト設計手法と比較してテスト・データの量とテスト時間を最大で25分の1までに削減できた。さらに、テストコストの大幅な削減も達成できた。(ii)過剰テスト緩和のため有効テスト合成手法を考察した。フォールスパスは、本来テスト不可能なパスであり、テスト容易化設計のことによって、テストされてしまうことと言い、それは過剰テストとも呼べる。結果的には、歩留まりが悪くなり、良品を不良品と判断してしまうなどの悪影響に及ぼす。今年度は過剰テスト緩和のため有効テスト合成手法について考察を行った。

  • 研究成果

    (3件)

すべて 2008 2007

すべて 雑誌論文 (1件) (うち査読あり 1件) 学会発表 (2件)

  • [雑誌論文] A Secure Test Technique for Pipelined Advanced Encryption Standard2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Shi, N. Togawa, N. Yanagisawa and T. Ohtsuki
    • 雑誌名

      IEICE Transactions on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science E91-D, 3

      ページ: 776-780

    • 査読あり
  • [学会発表] GECOM: Test Data Compression Combined with All Unknown Response Masking2008

    • 著者名/発表者名
      Y. Shi, N. Togawa, M. Yanagisawa and T. Ohtsuki
    • 学会等名
      IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference
    • 発表場所
      Seoul, Korea
    • 年月日
      2008-01-24
  • [学会発表] CoDaMa: An XML-based Framework to Manipulate Control Data Flow Graphs2007

    • 著者名/発表者名
      S. Kohara, Y. Shi, N. Togawa, M. Yanagisawa and T. Ohtsuki
    • 学会等名
      Workshop on Synthesis and System Integration of Mixed Information technologies
    • 発表場所
      Hokkaido, Japan
    • 年月日
      2007-10-16

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公開日: 2010-02-04   更新日: 2016-04-21  

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