フォールパス自動検出および過剰テスト緩和の合成システムに関する研究

2009 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 19700045
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 計算機システム・ネットワーク
• 研究機関: 早稲田大学
• 研究代表者: 史 又華 早稲田大学, IT研究機構, 講師 (70409655)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2009
• キーワード: 設計自動化 / 回路とシステム / VLSI設計技術 / 回路設計・CAD

研究概要

システムLSIの多機能化、高速化及び低消費電力化につれ、新たな問題点が明らかになってきた。その一つは、フォールスパスの遅延に関する解析・テスト合成設計である。本研究では、システムLSI設計時間の短縮とテスト設計コストの削減のため、設計解析合成システムを構築し、その環境を活用して、次世代システムLSI向けの解析・テスト技術の開発を行ってきた。特に、フォールスパス自動検出システムの開発及び過剰テストを考慮した遅延故障テスト技術に関する研究を行ってきた。

研究成果

• [雑誌論文] X-Handling for Current X-Tolerant Compactors with More Unknowns and Maximal Compaction (2009)
  • 著者名/発表者名: Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
  • 雑誌名: IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science Vol.E92-A,No.12 ページ: 3119-3127
  • 査読あり
• [雑誌論文] A Unified Test Compression Technique for Scan Stimulus and Unknown Masking Data with No Test Loss (2008)
  • 著者名/発表者名: Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
  • 雑誌名: IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science Vol.E91-A,No.12 ページ: 3514-3523
  • 査読あり
• [雑誌論文] A Secure Test Technique for Pipelined Advanced Encryption Standard (2008)
  • 著者名/発表者名: Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
  • 雑誌名: IEICE Trans. on Fundamentals of Electronics Communications and Computer Science Vol.E91-D,No.3 ページ: 776-780
  • 査読あり
• [学会発表] Design-for-Secure- Test for Crypto Cores (2009)
  • 著者名/発表者名: Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
  • 学会等名: Proc. of IEEE International Test Conference (ITC)
  • 発表場所: Austin, USA
  • 年月日: 20091000
• [学会発表] Handling More X's Using Current X-Tolerant Compactors with Maximal Compaction (2009)
  • 著者名/発表者名: Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
  • 学会等名: IEEE European Test Symposium (ETS)
  • 発表場所: Sevilla, SPAIN
  • 年月日: 20090500
• [学会発表] X-Eliminator: A Technique to Mask All Unknown Responses with No Test Loss and Minimized Masking Data Overhead (2008)
  • 著者名/発表者名: Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
  • 学会等名: Proc. of 16th IFIP/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration (VLSI-SOC)
  • 発表場所: Rhodes Island, Greece
  • 年月日: 20081000
• [学会発表] GECOM: Test Data Compression Combined with All Unknown Response Masking (2008)
  • 著者名/発表者名: Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
  • 学会等名: Proc. of IEEE Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
  • 発表場所: Seoul, Korea
  • 年月日: 20080100
• [学会発表] Design for Secure Test - A Case Study on Pipelined Advanced Encryption Standard (2007)
  • 著者名/発表者名: Youhua Shi, Nozomu Togawa, Masao Yanagisawa, Tatsuo Ohtsuki
  • 学会等名: Proc. of IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS)
  • 発表場所: New Orleans, USA
  • 年月日: 20070500