|
化学反応によって変化するタンパク質の構造の実測を目的とし、飛行時間型二次イオン質量分析法(TOF-SIMS)による固定化をンパク質の最表面構造測定法を開発した。タンパク質などの生体高分子を対象としたTOF-SIMS測定では、フラグメントイオンが予測できず、また複雑であることを考慮し、参照試料と比較して特異的なフラグメントイオンを導きだすスペクトル解析法を応用した。この手法を用いて、.固定化タンパク質の構造を計測すれば構造変化の実測をチトクロムb5をモデル試料として試みた。チトクμムb5にシステイン残基をーカ所だけ導入し、システインのチオール基と金との相互作用を使用して、金基板に固定化することにより、配向を制御したチトクロームb5固定化チッブを作製した。試料作成は研究協力者であるW.Boireau博士が実施した。.チトクロムb5固定化試料およびチトクロームb5を含まない参照試料をTOF-SIMSで測定し、.スペクトルを比較した。チトクロムb5固定化試料のみに特定的な二次イオンを参照試料とのスペクトル比較から探し出した。その際には、申請者が開発した相互情報量によるスペクトル解析プログラムを用いた。次に、得られた特異的な二次イオンををフラグメントとLて発生しうるアミノ酸残基の組み合わせを全て選び出し、選ばれた組み合わせをチトクロームb5のアミノ酸配列と照合して、フラグメントイオン発生部位を決定した。フラグメントイオン発生部位をチトクロームb5の立体構造と照合し結果、フラグメント発生部位として導きだされた部位は、システイン残基で金基板で固定化された状態で上部に位置する部位でもあり、固定化チトクロームb5の最表面構造が実測できたと考えられる。
|
