電極面が原子オーダーで平坦なナノギャップの作成および原子分解能観察

2008 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 19760023
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 京都大学
• 研究代表者: 黒川 修 京都大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (90303859)
• 研究期間 (年度): 2007 – 2008
• キーワード: 走査プローブ顕微鏡 / 表面・界面 / ナノギャップ

研究概要

Silicon on insulator基板を使用することで,比較的簡便な方法でSPM(走査プローブ顕微鏡)観察に適したナノギャップを作成した.実際にギャップ部で電圧降下が起っていること,電極表面が1nm以下の平坦差に保たれていることを確かめた.

研究成果

• [雑誌論文] High-bias breakdown of Au/1,4-benzenedithiol/Au junctions (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Teramae, K. Horiguchi, S. Hashimoto, M. Tsutsui, S. Kurokawa and A. Sakai
  • 雑誌名: APPLIED PHYSICS LETTERS 第93巻, art ページ: 083121-083123
• [図書] 走査プローブ顕微鏡(実験物理科学シリーズ6) (2009)
  • 著者名/発表者名: 黒川 修(一部分担)
  • 総ページ数: 425(208-218)
  • 出版者: 共立出版