研究課題
若手研究(B)
150keV集束イオンビームと大口径の検出器を組み合わせた弾性反跳粒子飛行時間計測系の構築を行った。Si基板へのB注入試料の計測を行い、それぞれの元素の検出に成功した。この計測結果より、Bの深さ分布への変換を試みたが、本研究で用いた計測系では二次電子飛行距離の違いによる時間分解能の悪化が発生しBの濃度分布への変換は難しかった。