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2007 年度 実績報告書

有機金属錯体を用いたCVDによるLa2O3ゲート絶縁膜の形成と界面物性評価

研究課題

研究課題/領域番号 19760219
研究機関広島大学

研究代表者

村上 秀樹  広島大学, 大学院・先端物質科学研究科, 助教 (70314739)

キーワード高誘電率ゲート絶縁膜 / MOCVD
研究概要

有機金属錯体である、トルエン希釈1%La(TMOD)3を用いたMOCVD(Metal Organic Chemical Vapor Deposition)により、Si基板およびPt上にLa2O3膜を形成する技術を確立した。
原料であるLa(TMDO)3は、固体材料であるが、吸湿性が非常に高く、固体での取り扱いが困難であるため、トルエン溶液を気化することで、安定供給する技術を確立した。Pt(〜50nm)上に基板温度300℃、酸素雰囲気(10Pa)にて成膜し、X線光電子分光(XPS)により評価した結果、成膜時間に応じて酸化膜起因のピーク強度が大きくなっており、膜厚の増大が観測できるのに対し、酸素導入しない1Pa減圧下にて、基板温度100℃および200℃で成膜した場合には、ピーク強度は変化せず、膜厚は一定であると考えられる。また、角度分解XPSにて、表面敏感で評価を行った結果、表面はCOxHyで終端されていることが示唆された。さらに、飽和吸着したLa酸化膜を150℃以上の温度で酸素アニール(02-PDA(Post Deposition Anneal)を行うことにより、COxHy層に起因したピークが顕著に減少するため、成膜と酸素アニールの繰り返しを行うことで、原子層制御の可能性が高いことが分かった。

  • 研究成果

    (1件)

すべて 2007

すべて 学会発表 (1件)

  • [学会発表] The Impact of Post Deposition NH3-Anneal on La Oxide Films Formed by MOCVD Using La(DPM)32007

    • 著者名/発表者名
      R. Yougauchi, A. Ohta, Y. Munetaka, H. Myrajami, S. Higashi, S. Miyazaki
    • 学会等名
      Fifth International Symposium on Control of Semiconductor Interfaces(ISCSI-V)
    • 発表場所
      Hachioji,
    • 年月日
      20071112-14

URL: 

公開日: 2010-02-04   更新日: 2016-04-21  

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