| 研究概要 |
申請者が独自に開発した画像処理によるサブピクセル変形計測法に対し残差力に基づく修正変位法および画像拡大法を導入し高精度化した画像計測法を新たに開発した。なお,残差力に基づく修正変位法とはレ有限要素法の基礎理論に基づき物体内の変位の連ダ続性および各画素位置における力の釣り合い状態の両者を同時に満足する,し実用性の高い理論的手法である.一方,画像拡大法とは,撮影された画素位置の間に,仮想画素を設定し,見かけの画素数を増やす方法である.さらに,画像照合め際にその点におけるひずみや回転変形を考慮し,画像照合と応力・ひずみ解析を連成させ精度を上げる方法を構築した。さらに,時空間微分法を本手法に導入するごとで,計算時間を約1/100以下に抑えることが出来る方法を独自に開発した。さらに,画像ボードを用いて分散型並列化計算することで,計算時間を向上させた。次に,ステレオ画像法すなわち,カメラを2台用いて計測対象物の三次元座標を計測する方法を独自に開発し,その手法を試験片の形状計測問題に適用七た結果,妥当な精度で三次元形状計測可能であることを確認した。トこのことにより,次年度以降に行う予定である残留応力評価にステレオ画像法が適用できることが予想される。
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