実環境下の損傷敏感試料に微細領域の動態観測技術をもたらす半導体電子ビーム源

2019 年度 審査結果の所見

• 研究課題/領域番号: 19H00666
• 研究種目: 基盤研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 審査区分: 中区分14:プラズマ学およびその関連分野
• 研究機関: 名古屋大学
• 研究代表者: 西谷 智博 名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 客員准教授 (40391320)
• 研究分担者: 目黒 多加志 東京理科大学, 理学部第二部物理学科, 教授 (20182149) ; 洗平 昌晃 名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 助教 (20537427) ; 成田 哲博 名古屋大学, 理学研究科, 准教授 (30360613) ; 本田 善央 名古屋大学, 未来材料・システム研究所, 准教授 (60362274) ; 石川 史太郎 愛媛大学, 理工学研究科(工学系), 准教授 (60456994) ; 田渕 雅夫 名古屋大学, シンクロトロン光研究センター, 教授 (90222124) ; 市川 修平 大阪大学, 超高圧電子顕微鏡センター, 助教 (50803673) ; 保田 英洋 大阪大学, 工学研究科, 教授 (60210259) ; 七井 靖 青山学院大学, 理工学部, 助教 (80755166)
• 研究期間 (年度): 2019-04-01 – 2022-03-31

審査結果の所見の概要

熱電子放出型、電界放出型と進んできた電子顕微鏡の電子源として半導体フォトカソードによる電子ビーム源を実現しようとする課題である。フォトカソードの最適化により、高速、高強度ビームを実現して、ブラウン運動や観測対象の運動をより速く観測することを目指している。さらに、実環境下にある生体物質の高品質な観測も視野に入れている。
電子顕微鏡にブレークスルーをもたらしうる研究課題である。電子ビームによる損傷に敏感な生体試料の高速動態計測を可能にするなど、次世代電子顕微鏡の実現を目指す研究で、液中にある生体物質の高品質な計測も可能になることが期待できる。電子源の半導体化は広い分野への応用性があり、波及効果も高い。