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2019 年度 審査結果の所見

2Dヘテロ界面特性の理解に基づく2DトンネルFETの構築

研究課題

研究課題/領域番号 19H00755
研究種目

基盤研究(A)

配分区分補助金
応募区分一般
審査区分 中区分21:電気電子工学およびその関連分野
研究機関東京大学

研究代表者

長汐 晃輔  東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 教授 (20373441)

研究分担者 吾郷 浩樹  九州大学, グローバルイノベーションセンター, 教授 (10356355)
研究期間 (年度) 2019-04-01 – 2022-03-31
審査結果の所見の概要

本研究は、二次元層状物質を用いて二次元-二次元ヘテロ界面をトンネル電界効果トランジスタ(トンネルFET)に適応することで、トンネル距離を層間距離にまで低減してトンネルFETのオン電流向上を目指すものである。
本研究では、提案者が取り組んできた二次元層状物質の原子レベルで急峻かつ電気的に不活性な界面をトンネルFETに適応するものであり、学術的な新規性と独創性が高い。トンネルFETのオン電流向上はIoTデバイスの低消費電力化にも繋がるため、研究の波及効果も大きい。

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公開日: 2019-06-25  

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