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2019 年度 実績報告書

情報漏えいを引き起こす電磁波の計測困難化を実現する機器設計手法の開拓

研究課題

研究課題/領域番号 19H01104
研究機関奈良先端科学技術大学院大学

研究代表者

林 優一  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 教授 (60551918)

研究分担者 藤本 大介  奈良先端科学技術大学院大学, 先端科学技術研究科, 助教 (60732336)
研究期間 (年度) 2019-04-01 – 2023-03-31
キーワード電磁波セキュリティ / サイドチャネル攻撃 / 電磁環境 / 暗号・認証
研究実績の概要

本年度は、情報機器からの電磁波を通じた情報漏えいを評価する技術の開発を行った。情報機器からの電磁波を通じた情報の漏えいは特定の周波数(漏えいチャネル)で発生しており、この周波数において観測される放射電磁波に対して信号処理を施すことで情報の取得が可能となる。一方、情報機器から放射される電磁波は、非常に広い周波数で生じており、周波数毎に機器内部の実行される処理情報が得られるかを情報の復元まで行って確認する場合、多大な時間を要する。本年度は、電磁波を通じた情報漏えいモデルを機器内部で繰り返し実行される処理に着目して構築し、情報端末から放射される周波数毎に復調処理を施し、復調された信号に含まれる周波数を識別子として、漏えいチャネルを特定する手法を開発した。開発した手法は従来の評価手法に比べ、評価時間を1/100程度に短縮した。また、漏えいが発生している周波数帯に着目し、情報を漏えいさせる電磁波の強度をアクティブにコントロールできることを基礎実験により確認した。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

本年度は、情報機器からの電磁波を通じた情報漏えいを評価する技術の開発を行い、その有効性も確認しており、当初の計画を達成している。また、次年度から着手予定であった電磁界シミュレーションを用いた漏えい評価技術の基礎検討も前倒しして開発を進め、基礎的な成果は当該分野における主要な国際会議・論文誌に採択されている。

今後の研究の推進方策

今後は、情報機器からの電磁波を通じた情報漏えい評価技術の精度向上を行うと共に、電磁界シミュレーション技術を用いた機器設計情報に基づく漏えい評価技術の開発を進める予定である。開発するシミュレーション技術は、汎用的な計算機で実行可能であることを目標とする。そのため、実験に基づいて抽出されたパラメタの中から、漏えい周波数を決定する支配的な要素を抽出し、シミュレーションに反映させる予定である。

  • 研究成果

    (8件)

すべて 2020 2019

すべて 雑誌論文 (3件) (うち国際共著 2件、 査読あり 3件、 オープンアクセス 1件) 学会発表 (5件) (うち国際学会 3件、 招待講演 4件)

  • [雑誌論文] Statistical Eye-Diagram Estimation Method Considering Power/Ground Noise Induced by Simultaneous Switching Output (SSO) Buffers2020

    • 著者名/発表者名
      Youngwoo Kim , Daisuke Fujimoto, Shugo Kaji, Shinpei Wada, HyunwookPark, Daehwan Lho, Joungho Kim, and Yuichi Hayashi
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Electromagnetic Compatibility

      巻: 2020 ページ: 1-11

    • DOI

      10.1109/TEMC.2020.2975202

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] ハードウェアに潜む電磁波セキュリティの脅威とその対策2019

    • 著者名/発表者名
      林優一
    • 雑誌名

      電子情報通信学会 基礎・境界ソサイエティ Fundamentals Review

      巻: 13 ページ: 28-37

    • DOI

      https://doi.org/10.1587/essfr.13.1_28

    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Statistical Analysis of Simultaneous Switching Output (SSO) Impacts on Steady State Output Responses and Signal Integrity2019

    • 著者名/発表者名
      Young Woo Kim, Daisuke Fujimoto, Hikaru Nishiyama, Daehwan Lho, Hyunwook Park, Joungho Kim and Yuichi Hayashi
    • 雑誌名

      2019 12th International Workshop on the Electromagnetic Compatibility of Integrated Circuits (EMC Compo)

      巻: 2019 ページ: 138-140

    • DOI

      10.1109/EMCCompo.2019.8919652

    • 査読あり / 国際共著
  • [学会発表] Statistical Signal/Power Integrity Analysis of High-BandwidthMemory (HBM) Interposer Channel considering SSO Noise and Data Coding2020

    • 著者名/発表者名
      Youngwoo Kim , Yu-ichi Hayashi, Fujimoto Daisuke, Hyunwook Park,and Joungho Kim
    • 学会等名
      DesignCon 2020
    • 国際学会
  • [学会発表] Introduction to Electromagnetic Information Security2019

    • 著者名/発表者名
      Y.Hayashi
    • 学会等名
      2019 Symposia on VLSI Technology and Circuits
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] IoT時代に求められるハードウェアセキュリティ2019

    • 著者名/発表者名
      林優一
    • 学会等名
      EMC Sapporo & APEMC 2019 市民セミナー
    • 招待講演
  • [学会発表] EMCとセキュリティ ~電磁波によるセキュリティ低下の問題とその対策~2019

    • 著者名/発表者名
      林優一
    • 学会等名
      EMCユーザ会議 2019
    • 招待講演
  • [学会発表] Introduction:Application of EMC Methodology to Information Security Evaluations/Countermeasures/Education2019

    • 著者名/発表者名
      Y.Hayashi
    • 学会等名
      2019 IEEE International Symposium on EMC+SIPI
    • 国際学会 / 招待講演

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公開日: 2021-01-27  

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