• 研究課題をさがす
  • 研究者をさがす
  • KAKENの使い方
  1. 課題ページに戻る

2021 年度 実績報告書

ミューオン起因ソフトエラー評価基盤技術: 実測とシミュレーションに基づく将来予測

研究課題

研究課題/領域番号 19H05664
研究機関京都大学

研究代表者

橋本 昌宜  京都大学, 情報学研究科, 教授 (80335207)

研究分担者 安部 晋一郎  国立研究開発法人日本原子力研究開発機構, 原子力科学研究部門 原子力科学研究所 原子力基礎工学研究センター, 研究職 (00727373)
渡辺 幸信  九州大学, 総合理工学研究院, 教授 (30210959)
佐藤 朗  大阪大学, 大学院理学研究科, 助教 (40362610)
新倉 潤  東京大学, 大学院理学系研究科(理学部), 助教 (50644720)
鎌倉 良成  大阪工業大学, 情報科学部, 教授 (70294022)
研究期間 (年度) 2019-06-26 – 2024-03-31
キーワードソフトエラー / ミューオン / 集積システム / VLSI / 信頼性
研究実績の概要

課題1-1では、電荷識別型宇宙線ミュオン計測システムを組み立てた。まずは永久磁石を外して、電荷識別・運動量分析をしない宇宙線計測を実施し、測定角度分布をGeant4シミュレーションの結果と比較して、概ね良い一致を得た。宇宙線飛跡構築のアルゴリズムの改良を進め、より現実的な条件下における飛跡推定性能の評価を行った。課題1-2では、パルスミューオン施設におけるミューオンフラックスの絶対量測定とミューオン捕獲反応で生成する放射能の絶対値測定を可能にする手法として、インビーム放射化法の検討をすすめ、有効に働く条件を検討し、J-PARC MUSEで利用可能である見通しを得た。
課題2-1では、12nm, 28nm 評価ボードでエラー測定を行う評価システムを構築した。中性子照射実験を実施し、基本エラーデータを得た。課題2-2では、チップの動作を検証し、エラー測定に利用可能な評価システムの構築を進めた。課題2-3では、ニューラルネットワークの脆弱部分を高速に見つける手法を開発した。
課題3では、PHITSに実装している負ミューオン原子核捕獲反応の励起関数において、Meson Exchange Current(MEC)の寄与を考慮することで、Si標的に対する負ミューオン原子核捕獲反応からの高エネルギー陽子放出の過小評価を改善した。NSFETに放射線入射が与える影響をデバイスシミュレーションにより解析し,ソース・ドレイン下部の絶縁膜の有無が過渡電流波形に与える影響を調べた。さらに,微細FETコンパクトモデルのパラメータを機械学習により抽出する方法について検討した。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

研究計画調書に記載した各課題の検討は順調に進んでいる。
課題1-1 は、宇宙線ミューオンの測定に必要な低エネルギーミューオン計測システムの測定と妥当性検証が期待通りに進んでいる。課題1-2 の物理基礎データの取得については、絶対値の精度が十分に取れることを確認した。
課題2-1, 2-2 は、実験に必要なチップの評価が順調に進んでいる。課題2-3 も計算機上での信頼性評価技術開発が順調に進んでいる。
課題3 のシミュレーションでは、既存の負ミューオン原子核捕獲反応モデルと測定で得られた速報版データとの比較検討が進んで、シミュレーションの精度向上が測られている。
課題4 の将来予測では、ナノシートFETのシミュレーションモデルを用いた評価が順調に進んでいる。

今後の研究の推進方策

課題1-1は、永久磁石を導入した電荷識別型宇宙線ミュオン計測システムを用いて、低エネルギー正・負ミュオン束のエネルギー・角度分布を建屋内で定点観測する。課題1-2では、J-PARC MUSEで実施予定であるSRAMミューオン照射実験において、インビーム放射化法を用いてミューオンフラックスの絶対量測定とミューオン捕獲反応で生成する放射能の絶対値測定を実施する。
課題2-1では、ミューオンの実験に先駆けて陽子で予備実験を実施する。課題2-2では、ミューオンの照射実験を実施する。課題2-3では、GPUで発生するDUEエラーを事前検出する方式を検討する。
課題3では、Al,Si標的への負ミューオン照射による生成残留核についてPHITS計算を実施する。将来のトランジスタ構造として期待されるコンプリメンタリ型電界効果トランジスタ(CFET)のデバイスシミュレーションモデルを構築する。

  • 研究成果

    (18件)

すべて 2022 2021

すべて 雑誌論文 (5件) (うち国際共著 1件、 査読あり 4件) 学会発表 (13件) (うち国際学会 1件、 招待講演 6件)

  • [雑誌論文] Impact of Neutron-Induced SEU in FPGA CRAM on Image-Based Lane Tracking for Autonomous Driving: From Bit Upset to SEFI and Erroneous Behavior2022

    • 著者名/発表者名
      Tanaka Tomonari、Liao Wang、Hashimoto Masanori、Mitsuyama Yukio
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Nuclear Science

      巻: 69 ページ: 35~42

    • DOI

      10.1109/TNS.2021.3131346

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Estimating Vulnerability of All Model Parameters in DNN with a Small Number of Fault Injections2022

    • 著者名/発表者名
      Y. Zhang, H. Itsuji, T. Uezono, T. Toba, and M. Hashimoto
    • 雑誌名

      Proceedings of Design, Automation and Test in Europe Conference (DATE)

      巻: - ページ: -

    • DOI

      10.23919/DATE54114.2022.9774569

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Analyzing DUE Errors on GPUs With Neutron Irradiation Test and Fault Injection to Control Flow2021

    • 著者名/発表者名
      Ito Kojiro、Zhang Yangchao、Itsuji Hiroaki、Uezono Takumi、Toba Tadanobu、Hashimoto Masanori
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Nuclear Science

      巻: 68 ページ: 1668~1674

    • DOI

      10.1109/TNS.2021.3098845

  • [雑誌論文] Muon-Induced Single-Event Upsets in 20-nm SRAMs: Comparative Characterization with Neutrons and Alpha Particles2021

    • 著者名/発表者名
      T. Kato, M. Tampo, S. Takeshita, H. Tanaka, H. Matsuyama, M. Hashimoto, and Y. Miyake
    • 雑誌名

      IEEE Transactions on Nuclear Science

      巻: 68 ページ: 1436-1444

    • DOI

      10.1109/TNS.2021.3082559

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Processor SER Estimation with ACE Bit Analysis2021

    • 著者名/発表者名
      T. Hsu, D. Yang, W. Liao, M. Itoh, M. Hashimoto, and J. Liou
    • 雑誌名

      Proceedings of European Conference on Radiation and Its Effects on Components and Systems (RADECS)

      巻: - ページ: -

    • DOI

      10.1109/RADECS53308.2021.9954474

    • 査読あり / 国際共著
  • [学会発表] ミューオン起因半導体ソフトエラーの測定と課題2022

    • 著者名/発表者名
      橋本昌宜
    • 学会等名
      RCNP研究会
    • 招待講演
  • [学会発表] RISC-Vプロセッサに対するフォールトインジェクション実験の結果分析2021

    • 著者名/発表者名
      田上凱斗, 橋本昌宜
    • 学会等名
      情報処理学会DAシンポジウム
  • [学会発表] Applications outside particle physics (soft error)2021

    • 著者名/発表者名
      M. Hashimoto
    • 学会等名
      ILC Workshop on Potential ILC Experiments (ILCX)
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] 負ミューオンを用いた原子核構造研究2021

    • 著者名/発表者名
      新倉潤
    • 学会等名
      RCNPでの次期計画検討会
    • 招待講演
  • [学会発表] 電荷識別型低エネルギー宇宙線ミュオン計測システムの開発2021

    • 著者名/発表者名
      亀井 智子,川瀬 頌一郎,佐藤 朗,田中裕貴,中上直人,金 政浩,渡辺 幸信
    • 学会等名
      第82回応用物理学会秋季学術講演会
  • [学会発表] 宇宙線ミュオン起因半導体ソフトエラー率の評価に向けた取り組み2021

    • 著者名/発表者名
      渡辺 幸信
    • 学会等名
      令和3年度J-PARC MLF産業利用報告会
    • 招待講演
  • [学会発表] 半導体デバイスの宇宙線起因ソフトエラー解析2021

    • 著者名/発表者名
      渡辺幸信
    • 学会等名
      耐放射線デバイス研究会
    • 招待講演
  • [学会発表] 半導体デバイスに対する宇宙線起因ソフトエラー研究の現状と展望2021

    • 著者名/発表者名
      渡辺 幸信
    • 学会等名
      12回半導体材料・デバイスフォーラム
    • 招待講演
  • [学会発表] 半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応 測定計画 (1) 概要2021

    • 著者名/発表者名
      川瀬頌一郎、福田宏哉、渡辺幸信、新倉潤、橋本昌宜
    • 学会等名
      日本原子力学会2021年秋の大会
  • [学会発表] 半導体デバイスにおける宇宙線ミュオン起因ソフトエラー発生率評価に向けたミュオン原子核捕獲反応 測定計画 (2) 荷電粒子計測システムの開発2021

    • 著者名/発表者名
      福田宏哉、川瀬頌一郎、渡辺幸信、大石将也、川田哲平、郷慎太郎、西畑洸希、新倉潤、鈴木大介、真鍋征也
    • 学会等名
      日本原子力学会2021年秋の大会
  • [学会発表] Development of counter telescopes for light charged particles emitted from muon nuclear reaction on Si2021

    • 著者名/発表者名
      Hiroya Fukuda, Shoichiro Kawase, Yukinobu Watanabe, Masaya Oishi, Teppei Kawata, Shintaro Go, Hiroki Nisibata, Megumi Niikura, Daisuke Suzuki, Seiya Manabe
    • 学会等名
      2021年核データ研究会
  • [学会発表] Siミューオン原子核反応の測定計画2021

    • 著者名/発表者名
      川瀬頌一郎
    • 学会等名
      RCNP研究会
  • [学会発表] 機械学習を用いた極微細MOSFETの電気特性およびパラメータの推定2021

    • 著者名/発表者名
      赤澤 光平,仲西唯吾,鈴木悠平,鎌倉良成
    • 学会等名
      電子情報通信学会SDM研究会

URL: 

公開日: 2023-12-25  

サービス概要 検索マニュアル よくある質問 お知らせ 利用規程 科研費による研究の帰属

Powered by NII kakenhi