静電型イオンビームトラップに蓄積したイオンをレーザー光励起で準安定状態にし、その放射寿命を精密に測定する方法の開発に取り組んだ。開発した方法のテストとして、トラップに蓄積した分子イオンからの再帰蛍光および光吸収解離の測定を行った。その結果、蓄積イオンの蛍光検出および蓄積イオンのレーザー光励起に成功していることが確認できた。レーザー光励起したイオンの蛍光測定では、ある波長領域で高計数のバックグラウンド光子が確認され、これが測定の妨げになった。この原因を明らかにした上で装置の改良を行い、バックグラウンド光子を1/10まで低減させた。改良した装置を用いた光子測定が現在進行中である。
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