|
本研究は，高強度レーザーと相互作用する固体試料の加熱過程の理解を目的とする．この目的のため，X線自由電子レーザー（プローブ）の照射に伴って発生する特性X線の分光計測法を活用した，高強度レーザー（ポンプ）が照射された固体試料内の温度と電離度の時間発展を診断する新しい手法を開発し，それを利用する．本研究では，この手法に最適な電離度センサーを含有する固体試料を設計開発し，それに対して両レーザーを精密に照射する技術を確立した．これを用いることで，ポンプ・プローブ実験において信号強度を維持しつつノイズを明確に低減させ，本提案手法による試料の電離度診断の実現に目処が立った．
|
