|
本研究の目的は蛍光X線スペクトルを利用して、黒曜石の産地推定のための新規解析法を開発し、遺跡出土黒曜石製石器に対して新規解析法を適用することである。目的を達成するにあたり①蛍光X線分析による原産地黒曜石データの検討、②蛍光X線スペクトルを用いた解析法の確立、③原産地黒曜石の定量分析結果からみた解析法の整合性の検証、④遺跡出土黒曜石製石器への活用を行う予定である。
昨年度までの成果で蛍光X線スペクトルを利用した新規解析法では、黒曜石の原産地ごとの大まかな判別は可能であることがわかっていたが、産地間の距離が近い原産地については細分ができていない状況であった。このことから、今年度は産地間の距離が近い原産地の細分を実現するための研究を中心に実施した。
本研究ではこれまで1機種の可搬型蛍光X線分析装置で得られたデータをもとに研究を進めてきた。そのため、細分が困難な理由として、装置による影響があると考え、別機種である据置型蛍光X線分析装置で得られた原産地黒曜石の蛍光X線スペクトルを解析対象として、調査を実施した。また、原産地黒曜石についてICP発光分光分析による定量分析結果の蓄積行い、細分のためのデータ検証に活用した。
本研究は今年度が最終年度であるが、新規解析法に対する検証に多くの時間を割いたため、研究の当初の最終目的である、遺跡出土黒曜石製石器への新規解析法の適用を実現することができなかった。一方で、遺跡出土黒曜石製石器に対する分析を行った際の参考資料とするため、研究初年度より継続して発掘報告書等に掲載されている黒曜石の産地推定結果に関するデータ収集を行い、多くの資料を収集することができた。
|
