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2019 年度 実施状況報告書

絶縁膜上における高キャリア移動度半導体の非熱平衡プロセスと超高速集積回路への応用

研究課題

研究課題/領域番号 19K21976
研究機関九州大学

研究代表者

佐道 泰造  九州大学, システム情報科学研究院, 准教授 (20274491)

研究期間 (年度) 2019-06-28 – 2022-03-31
キーワードトランジスタ / 結晶成長
研究実績の概要

トランジスタの微細化による集積回路の性能向上が物理的限界に直面しつつある。さらなる集積回路の性能向上には、新しい手法を採用し、トランジスタを高性能化する事が必須である。本研究では、絶縁膜上に形成したGeSnをチャネルとした高性能トランジスタの実現を目指し、縁膜上にGeSnを高品位形成する新しい結晶成長技術、良好なデバイス動作を可能とする為の不純物ドーピング技術等を創出することを目的として、3年計画で研究を推進する。
今年度は、3年計画の第1年度として、下記の成果を得た。
(1) 縁膜上にGeSnを高品位形成する新しい結晶成長技術の創出を目指し、基板界面が結晶成長プロセスに与える効果を検討した。その結果、界面エネルギーを変調すると、成長層の結晶構造、組成分布、および電気特性が大きく変化することを見いだした。この効果は、GeSn膜厚の減少につれ顕著化するため、特に薄膜化が要求される次世代デバイス構造で問題となる。次年度はその機構の解明を行う予定である。
(2) Ge系薄膜への高濃度ドーピング手法として、V族元素等を触媒として用いる新しい結晶成長プロセスの検討を行った。III族元素や重金属を用いた触媒成長では、成長層に残留する触媒原子や結晶欠陥に起因して、p型伝導を示す場合が多い。一方、V族元素を用いると、成長層に残留する触媒原子がドナーとして振る舞い、n型伝導が発現することが明らかとなった。本手法で得られた成長層の自由電子密度はV族元素の熱平衡固溶度に比べて著しく高く、興味深い結果が得られている。次年度は、その詳細の解明を目指し、実験を推進する。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

綿密な実験計画を立案して研究を推進しており、概ね、順調に進展している。

今後の研究の推進方策

当初の計画に添って、研究を推進する。

次年度使用額が生じた理由

再現性の高い実験を行うため、当初、コストのかかる大面積試料を多数用いることを計画していたが、実験を推進する過程で試料作製プロセスにおけるバラツキを抑制する指針が見いだされ、安価な小面積の試料を用いても再現性の高い実験が行えるようになったため、材料費の使用額が減少した。また、新型コロナウイルス感染拡大の影響で、学会へ参加するための旅費が不要となった。これらの理由により、次年度への繰り越しが発生した。次年度は、この繰り越し金も有効に活用し、評価システムの改良などを行って研究の高度化を図る。

  • 研究成果

    (13件)

すべて 2020 2019 その他

すべて 国際共同研究 (2件) 雑誌論文 (2件) (うち査読あり 2件) 学会発表 (9件) (うち国際学会 2件)

  • [国際共同研究] Universidade de Vigo(スペイン)

    • 国名
      スペイン
    • 外国機関名
      Universidade de Vigo
  • [国際共同研究] Leti(フランス)

    • 国名
      フランス
    • 外国機関名
      Leti
  • [雑誌論文] Enhanced mobility of Sn-doped Ge thin-films (≦50 nm) on insulator for fully depleted transistors by nucleation-controlled solid-phase crystallization2019

    • 著者名/発表者名
      Xu Chang、Gong Xiangsheng、Miyao Masanobu、Sadoh Taizoh
    • 雑誌名

      Applied Physics Letters

      巻: 115 ページ: 042101~042101

    • DOI

      10.1063/1.5096798

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Low-Temperature (~250°C) Gold-Induced Lateral Growth of Sn-Doped Ge on Insulator Enhanced by Layer-Exchange Reaction2019

    • 著者名/発表者名
      Sadoh Taizoh、Sakai Takatsugu、Matsumura Ryo
    • 雑誌名

      ECS Journal of Solid State Science and Technology

      巻: 8 ページ: P609~P614

    • DOI

      10.1149/2.0281910jss

    • 査読あり
  • [学会発表] Bi誘起層交換成長法によるn型Ge/絶縁基板の低温形成2020

    • 著者名/発表者名
      劉 森, 公 祥生, 高 洪ミョウ, 佐道 泰造
    • 学会等名
      第67回応用物理学会 春季学術講演会
  • [学会発表] 界面変調型固相成長法で形成したSn添加多結晶Ge極薄膜/絶縁基板の粒界障壁解析2020

    • 著者名/発表者名
      千代薗 修典, 公 祥生, 徐 暢, 佐道 泰造
    • 学会等名
      第67回応用物理学会 春季学術講演会
  • [学会発表] 絶縁基板上におけるSiSn薄膜の低温固相成長特性2020

    • 著者名/発表者名
      小杉 智浩, 八木 和樹, 佐道 泰造
    • 学会等名
      第67回応用物理学会 春季学術講演会
  • [学会発表] High Carrier Mobility Sn-Doped Ge Thin-Films (≦50 nm) on Insulator by Interface-Modulated Solid-Phase Crystallization at Low-Temperature2019

    • 著者名/発表者名
      Xiangsheng Gong, Chang Xu, and Taizoh Sadoh
    • 学会等名
      2019 International Conference on Solid State Materials and Devices
    • 国際学会
  • [学会発表] Low-Temperature Bi-Induced Layer Exchange Crystallization for Formation of n-Type Ge on Insulator2019

    • 著者名/発表者名
      Xiangsheng Gong, Sen Liu, Hongmiao Gao, and Taizoh Sadoh
    • 学会等名
      2019 International Conference on Solid State Materials and Devices
    • 国際学会
  • [学会発表] 非晶質シリコン層挿入によるスズ添加ゲルマニウム薄膜の特性向上2019

    • 著者名/発表者名
      公 祥生, 徐 暢, 佐道 泰造
    • 学会等名
      電気・情報関係学会九州支部連合会
  • [学会発表] 界面変調によるSn添加極薄Ge薄膜/絶縁基板のキャリア移動度向上2019

    • 著者名/発表者名
      公 祥生, 徐 暢, 佐道 泰造
    • 学会等名
      電子情報通信会九州支部 学生会講演会
  • [学会発表] GeSn/絶縁基板の低温固相成長に与える下地変調効果2019

    • 著者名/発表者名
      丹 優太,鶴田 太基,公 祥生,佐道 泰造
    • 学会等名
      半導体材料・デバイスフォーラム
  • [学会発表] Bi誘起層交換法によるn型Ge/絶縁基板の低温成長2019

    • 著者名/発表者名
      劉 森,公 祥生, 高 洪ミョウ, 佐道 泰造
    • 学会等名
      半導体材料・デバイスフォーラム

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公開日: 2021-01-27  

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