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ゲノムDNAは、電離放射線、紫外線、化学物質などの外的要因や活性酸素などの内的要因によって絶えず損傷を受けている。これらの損傷は、いずれも量的には細胞死を引き起こすようなレベルではないにもかかわらず、ヒトにおいては発がんや老化と密接に関わっていることから、このような致死的ではない低レベル損傷を生物が長時間に渡って受け続けた場合の影響を明らかにし、その防御機構を理解することは非常に重要である。本研究では、自然界で問題になるようなレベルの紫外線に着目し、自ら作成した断続的に低レベルの紫外線を照射した条件(CLUV)で酵母細胞を培養できる実験系を用いて、細胞の損傷ストレス耐性機構の解析を行った。これまでの紫外線損傷応答の研究から、紫外線損傷の修復に関わるヌクレオチド除去修復(NER)の欠損株は高い致死率を示すことが知られていたが、興味深いことに本実験系においては致死とはならず野生型株同様に増殖可能であることを見いだした。一方で、野生型株はCLUV下においても突然変異の上昇は見られなかったが、NER欠損株は、時間と共に顕著に突然変異頻度の上昇が見られた。さらに、この変異スペクトラムを解析したところ、ヒトのNER機能を失ったXP(色素性乾皮症)細胞に見られる変異スペクトラムと極めて類似していることを見いだした。このように、本実験系は、XP患者に見られる高発がん性を引き起こす分子メカニズムを理解する上で有用なモデルとなりうることがわかった。現在、CLUV依存的な突然変異誘発に関する詳細な分子メカニズムの解明を行っている。
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