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2012 年度 実績報告書

微小領域二次元光電子分光

研究課題

研究課題/領域番号 20224007
研究機関奈良先端科学技術大学院大学

研究代表者

大門 寛  奈良先端科学技術大学院大学, 物質創成科学研究科, 教授 (20126121)

研究分担者 松井 文彦  奈良先端科学技術大学院大学, 物質創成科学研究科, 助教 (60324977)
研究期間 (年度) 2008-05-12 – 2013-03-31
キーワード放射線、X線、粒子線 / 表面・界面物性 / 物性実験 / 電子顕微鏡 / 計測工学
研究概要

本研究計画では、新しく発明してJST-CRESTで5年間開発してきた立体光電子顕微鏡(楕円メッシュ二次元分析器)を完成して、顕微鏡機能を使って試料の拡大像を観測し、微小領域だけからの高エネルギー分解能での二次元光電子分光を行ない、微小領域の電子状態と原子構造を立体的に詳しく観測することを目的としている。
完成した装置を放射光施設(SPring-8)に運び込み、放射光を励起光として光電子を用いた性能評価実験を行ってきた。光電子分光のピーク幅から全分解能を見積もり、0.2%という高いエネルギー分解能を確認することができた。試料の拡大像も25ミクロンの分解能で得ることができた。角度分布測定ジグを用いて、±50度までの角度分布がきれいに測定できることを確認した。
微小領域の結晶構造が解析できるという特徴を確認するため、太陽電池の省コスト化に貢献する多結晶Si基板を測定し、30ミクロン位のそれぞれの微結晶からの光電子回折パターンの測定に成功した。また、100ミクロン程度の微小試料である単層グラフェンからの光電子回折パターンの測定にも成功した。
電子状態を3次元的に詳しく解析できるという特徴を確認するため、グラファイトや表面超構造であるSi(111)5x2-Au構造からの3次元価電子帯の観測を行い、高エネルギー分解能の3次元バンド構造の取得に成功した。また、これらの強度分布には大きな非対称性が現れており、我々が提唱してきた「光電子構造因子」と「原子軌道からの角度分布」が測定できており、原子軌道や分子軌道まで解析できることが示された。
このように、これまで大きな単結晶試料でのみ観測できていた光電子回折パターンや3次元バンド構造を、微小領域から観測することに成功し、かつエネルギー分解能の高い測定ができたことから、本研究の目的はほぼ達成できたと考えられる。

現在までの達成度 (区分)
理由

24年度が最終年度であるため、記入しない。

今後の研究の推進方策

24年度が最終年度であるため、記入しない。

  • 研究成果

    (55件)

すべて 2012 その他

すべて 雑誌論文 (2件) 学会発表 (51件) (うち招待講演 3件) 図書 (1件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Photoelectron Diffraction and Holographic Reconstruction of Graphite2012

    • 著者名/発表者名
      Fumihiko Matsui, Tomohiro Matsushita, Hiroshi Daimon
    • 雑誌名

      J. Phys. Soc

      巻: 81 ページ: 114604-13

    • DOI

      DOI: 10.1143/JPSJ.81.114604

  • [雑誌論文] Three-Dimensional Reciprocal-Lattice Analysis Using Azimuth-Sccan Reflection High-Energy Electron Diffraction: Determination of Complex Crystal Orientations of Al Grains of Si(111) Surface2012

    • 著者名/発表者名
      K. Hattori, H. Oi, K. Tanaka, T. Kumagai, H. Daimon
    • 雑誌名

      Japan Journal of Applied Physics

      巻: 51 ページ: 055801-6

    • DOI

      DOI: 10.1143/JJAP.51.055801

  • [学会発表] Study of lattice distortion of porous Si by Li adsorption using two-dimensional photoelectron diffraction2012

    • 著者名/発表者名
      H. Daimon
    • 学会等名
      12th International Conference ICESS-12
    • 発表場所
      Saint Malo, France
    • 年月日
      2012-09-18
  • [学会発表] Soft X-Ray two-dimensional photoelectron structure factor analysis of graphite valence band by newly developed display-type analyzer2012

    • 著者名/発表者名
      F. Matsui
    • 学会等名
      12th International Conference ICESS-12
    • 発表場所
      Saint Malo, France
    • 年月日
      2012-09-18
  • [学会発表] Atomic structure visualizations of graphaite and monolayer graphene by photoelectron holography

    • 著者名/発表者名
      F. Matsui
    • 学会等名
      NSS-7
    • 発表場所
      Zurich, Switzerland
  • [学会発表] Improvement of the 3D atomic image reconstruction algorithm for photoelectron holography

    • 著者名/発表者名
      T. Matsushita
    • 学会等名
      NSS-7
    • 発表場所
      Zurich, Switzerland
  • [学会発表] Effect of Biaxial Tensile Strain on Silicon Valence Band Dispersion

    • 著者名/発表者名
      S. N. Takeda
    • 学会等名
      ICPS 2012
    • 発表場所
      Zurich, Switzerland
  • [学会発表] New Photoelectron Emission Microscope for 3D Atomic Imaging by Photoelectron Holography and Stereo-photograph

    • 著者名/発表者名
      H. Daimon
    • 学会等名
      3D-AINAS 2012
    • 発表場所
      東京大学物性研究室
  • [学会発表] Photoelectron Diffraction Spectroscopy for Atomic Site Specific Property Analysis of Surface and Subsurface

    • 著者名/発表者名
      F. Matsui
    • 学会等名
      3D-AINAS 2012
    • 発表場所
      東京大学物性研究室
  • [学会発表] Control system for photoelectron holography at SPring-8 and 3D atom image reconstruction algorithm

    • 著者名/発表者名
      T. Matsushita
    • 学会等名
      3D-AINAS 2012
    • 発表場所
      東京大学物性研究室
  • [学会発表] Local atomic structure analysis of ferromagnetic semiconductor Ge0.6Mn0.4 Te by atomic resolution holography

    • 著者名/発表者名
      N. Happo
    • 学会等名
      3D-AINAS 2012
    • 発表場所
      東京大学物性研究室
  • [学会発表] Layer-resolved atomic and electronic structure analysis of graphene on 4H-SiC(001) by photoelectron diffraction spectroscopy

    • 著者名/発表者名
      H. Matsui
    • 学会等名
      3D-AINAS 2012
    • 発表場所
      東京大学物性研究室
  • [学会発表] Atomic and electronic structure analysis of epitaxial silicon oxynitride thin film on 6H-SiC by two-dimentional photoelectron diffraction spectroscopy

    • 著者名/発表者名
      N. Maejima
    • 学会等名
      3D-AINAS 2012
    • 発表場所
      東京大学物性研究室
  • [学会発表] Atomic and Magnetic Structure Analysis of Sr2FeMoO6 by PED and XMCD

    • 著者名/発表者名
      S. Kitagawa
    • 学会等名
      3D-AINAS 2012
    • 発表場所
      東京大学物性研究室
  • [学会発表] Atomic and electronic structure analysis of crystalline oxide film of ZrB2 by two-dimentional photoelectron diffraction and spectroscopy

    • 著者名/発表者名
      R. Horie
    • 学会等名
      3D-AINAS 2012
    • 発表場所
      東京大学物性研究室
  • [学会発表] Photoelectron Diffraction Spectromicroscopy: Atomic Scale Characterization of Fe Poly-crystalline Surface

    • 著者名/発表者名
      K. Yasuda
    • 学会等名
      3D-AINAS 2012
    • 発表場所
      東京大学物性研究室
  • [学会発表] Atomic Structure Analysis of Mechanically Exfoliated Graphene by Micro Photoelectron Diffraction

    • 著者名/発表者名
      R. Ishii
    • 学会等名
      3D-AINAS 2012
    • 発表場所
      東京大学物性研究室
  • [学会発表] Circular dichroism in resonant photoelectron diffraction at Ni L3-edge

    • 著者名/発表者名
      M. Fujita
    • 学会等名
      3D-AINAS 2012
    • 発表場所
      東京大学物性研究室
  • [学会発表] 放射光顕微鏡による最先端のナノ領域の材料評価

    • 著者名/発表者名
      大門 寛
    • 学会等名
      SPring-8シンポジウム2012
    • 発表場所
      大阪大学コンベンションセンター
  • [学会発表] 原子分解能ホログラフィーの最近の成果

    • 著者名/発表者名
      林 好一
    • 学会等名
      SPring-8シンポジウム2012
    • 発表場所
      大阪大学コンベンションセンター
  • [学会発表] 解析分光、光電子ホログラフィーの現状

    • 著者名/発表者名
      松下 智裕
    • 学会等名
      SPring-8シンポジウム2012
    • 発表場所
      大阪大学コンベンションセンター
  • [学会発表] 深さ分解XAFS法によるSiC上酸窒化膜の電子状態解析

    • 著者名/発表者名
      前島尚行
    • 学会等名
      第15回XAFS討論会
    • 発表場所
      白兎会館
  • [学会発表] 光電子回折分光法による脱硫触媒Ni2P(10-10)の局所原子構造・電子状態解析

    • 著者名/発表者名
      松井公佑
    • 学会等名
      第15回XAFS討論会
    • 発表場所
      白兎会館
  • [学会発表] Ni L3吸収端近傍の共鳴光電子・Auger電子回折における円二色性の解析

    • 著者名/発表者名
      藤田將喜
    • 学会等名
      第15回XAFS討論会
    • 発表場所
      白兎会館
  • [学会発表] Fe多結晶表面への顕微回折分光法の応用

    • 著者名/発表者名
      安田馨
    • 学会等名
      第15回XAFS討論会
    • 発表場所
      白兎会館
  • [学会発表] 二次元光電子分光による IGZO/SiO2界面の解析

    • 著者名/発表者名
      上岡 義弘
    • 学会等名
      2012年度 秋季 第73回応用物理学学術講演会
    • 発表場所
      松山大学文教キャンパス
  • [学会発表] APRES measurement of valence band structure in strained silicon

    • 著者名/発表者名
      S.N. Takeda
    • 学会等名
      12th International Conference ICESS-12
    • 発表場所
      Saint Malo, France
  • [学会発表] Electronic structure analysis of oxynitride thin film on SiC(0001) by depth-resolved XPS and XANES

    • 著者名/発表者名
      N. Majima
    • 学会等名
      12th International Conference ICESS-12
    • 発表場所
      Saint Malo, France
  • [学会発表] Atomic and electronic structure analysis of catalytic Ni2P by photoelectron diffraction spectroscopy

    • 著者名/発表者名
      H. Matsui
    • 学会等名
      12th International Conference ICESS-12
    • 発表場所
      Saint Malo, France
  • [学会発表] Atomic-orbital analysis of ZrB₂ valence band by linearly-polarized-synchrotron radiation two-dimensional photoelectron spectroscopy

    • 著者名/発表者名
      R. Horie
    • 学会等名
      12th International Conference ICESS-12
    • 発表場所
      Saint Malo, France
  • [学会発表] Atomic and magnetic structure analysis of Sr2FeMoO6 by photoelectron diffraction and X-ray magnetic circular dichroism

    • 著者名/発表者名
      S. Kitagawa
    • 学会等名
      12th International Conference ICESS-12
    • 発表場所
      Saint Malo, France
  • [学会発表] Electronic structure of Pb-absorbed Ge(001) by angle resolved photoelectron spectroscopy

    • 著者名/発表者名
      T. Sakata
    • 学会等名
      12th International Conference ICESS-12
    • 発表場所
      Saint Malo, France
  • [学会発表] Surface metallization of SrTiO3 (001) by adsorption of hydrogen

    • 著者名/発表者名
      S. Yamamoto
    • 学会等名
      12th International Conference ICESS-12
    • 発表場所
      Saint Malo, France
  • [学会発表] BaFe2As2の2次元光電子分光

    • 著者名/発表者名
      滝沢 優
    • 学会等名
      日本物理学会2012年秋季大会
    • 発表場所
      横浜国立大学
  • [学会発表] φ-RHEED3次元逆格子マッピングによるSi(001)表面上に成長した鉄シリサイドドーム島の構造解析

    • 著者名/発表者名
      太田 啓介
    • 学会等名
      日本物理学会2012年秋季大会
    • 発表場所
      横浜国立大学
  • [学会発表] φ-RHEED3次元逆格子マッピングによるSi(001)表面上に成長したマンガンシリサイド等の構造解析

    • 著者名/発表者名
      木村 明日香
    • 学会等名
      日本物理学会2012年秋季大会
    • 発表場所
      横浜国立大学
  • [学会発表] Depth-Resolved Electronic Structure Analysis of IGZO/SiO2 Interface by Two-Dimensional Photoelectron Spectroscopy

    • 著者名/発表者名
      Y. Ueoka
    • 学会等名
      SSDM 2012
    • 発表場所
      京都国際会議場
  • [学会発表] Study of Structure Change of Porous Si During Lithiation and Delithiation Using Two-Dimensional Photoelectron Diffraction

    • 著者名/発表者名
      H. Daimon
    • 学会等名
      IWAMSN 2012
    • 発表場所
      Ha Long City, Vietnum
    • 招待講演
  • [学会発表] Si ウェハーの超高真空フォトルミネッセンス:真空加熱・水素雰囲気加熱依存性

    • 著者名/発表者名
      服部賢
    • 学会等名
      第32回表面科学学術講演会
    • 発表場所
      東北大学さくらホール
  • [学会発表] 表面清浄化処理によるGaN(0001)からの発光強度の増大

    • 著者名/発表者名
      服部梓
    • 学会等名
      第32回表面科学学術講演会
    • 発表場所
      東北大学さくらホール
  • [学会発表] RHEED phi scan 3 次元逆格子マッピングによるSi(001)表面上に成長した鉄シリサイドドーム島の結晶構造解析

    • 著者名/発表者名
      太田啓介
    • 学会等名
      第32回表面科学学術講演会
    • 発表場所
      東北大学さくらホール
  • [学会発表] 電圧印加型電子的励起脱離を目指したヘテロ積層構造の探索

    • 著者名/発表者名
      広田望
    • 学会等名
      第32回表面科学学術講演会
    • 発表場所
      東北大学さくらホール
  • [学会発表] 面方位角スキャン3 次元逆格子マッピングによる Si(001)表面上に成長したマンガンシリサイド島の構造解析

    • 著者名/発表者名
      木村明日香
    • 学会等名
      第32回表面科学学術講演会
    • 発表場所
      東北大学さくらホール
  • [学会発表] In/Si(111)のRHEED強度振動

    • 著者名/発表者名
      田中友惟
    • 学会等名
      関西薄膜・表面物理セミナープログラム
    • 発表場所
      神戸セミナーハウス
  • [学会発表] Si(111)7x7清浄表面上へのNOx分子の解離吸着構造 ~室温走査トンネル顕微観察と第一原理計算シミュレーション~

    • 著者名/発表者名
      服部賢
    • 学会等名
      Cat-on-cat新規表面反応研究センターシンポジウム2012
    • 発表場所
      兵庫県立先端科学技術支援センター
  • [学会発表] 光電子回折分光法による脱硫触媒Ni2P(10-10)の局所原子構造・電子状態解析

    • 著者名/発表者名
      松井公佑
    • 学会等名
      Cat-on-cat新規表面反応研究センターシンポジウム2012
    • 発表場所
      兵庫県立先端科学技術支援センター
  • [学会発表] MOS構造上での電子励起触媒反応を目指した脱離反応系の探索

    • 著者名/発表者名
      広田望
    • 学会等名
      Cat-on-cat新規表面反応研究センターシンポジウム2012
    • 発表場所
      兵庫県立先端科学技術支援センター
  • [学会発表] 微小領域化学状態の深さ分析開発 (μ-HAXPES)

    • 著者名/発表者名
      池永英司
    • 学会等名
      第26回日本放射光学会年会放射光科学合同シンポジウム
    • 発表場所
      名古屋大学
  • [学会発表] Photoelectron diffraction of graphite and graphene

    • 著者名/発表者名
      F. Matsui
    • 学会等名
      SSNS'13
    • 発表場所
      山形県山形市
    • 招待講演
  • [学会発表] Initial Stage of Metal Adsorption on Si(111) : Real Time Monitoring by RHEED

    • 著者名/発表者名
      S. N. Takeda
    • 学会等名
      SSNS'13
    • 発表場所
      山形県山形市
    • 招待講演
  • [学会発表] Si(001)表面上に成長した3次元シリサイド島のφスキャンRHEED測定による3次元逆格子マッピング

    • 著者名/発表者名
      服部賢
    • 学会等名
      日本物理学会 第68回年次大会
    • 発表場所
      広島大学
  • [学会発表] 光電子回折分光による局所電子状態と原子構造の研究

    • 著者名/発表者名
      松井文彦
    • 学会等名
      日本物理学会 第68回年次大会
    • 発表場所
      広島大学
  • [学会発表] 歪み印加マニピュレータの開発

    • 著者名/発表者名
      武田さくら
    • 学会等名
      日本物理学会 第68回年次大会
    • 発表場所
      広島大学
  • [図書] ひかりエネルギー革命  -グリーンフォトニクス-2012

    • 著者名/発表者名
      NAISTグリーンフォトニクス研究チーム
    • 総ページ数
      6
    • 出版者
      ケイ・ディー・ネオブック
  • [備考] 凝縮系物性学研究室 研究成果

    • URL

      http://mswebs.naist.jp/LABs/daimon/index-j.html

URL: 

公開日: 2014-07-24  

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