| 研究課題/領域番号 |
20246012
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| 研究種目 |
基盤研究(A)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
薄膜・表面界面物性
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| 研究機関 | 北陸先端科学技術大学院大学 |
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研究代表者 |
富取 正彦 北陸先端科学技術大学院大学, マテリアルサイエンス研究科, 教授 (10188790)
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| 研究分担者 |
村田 英幸 北陸先端科学技術大学院大学, マテリアルサイエンス研究科, 教授 (10345663)
笹原 亮 北陸先端科学技術大学院大学, マテリアルサイエンス研究科, 助教 (40321905)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2011
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| キーワード | 走査プローブ顕微鏡 / 表面・界面物性 / 相互作用力 / ナノコンタクト / 結合力 / コンダクタンス / トンネル障壁 |
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| 研究概要 |
電圧印加非接触原子間力顕微鏡/分光法(Bias nc-AFM/S)を発展させ、試料表面上の原子・分子と探針先端原子の結合形成、電子状態変化を調べた。一例として、Si(111) 7x7表面にHを吸着させると、H-Si吸着原子とSi探針の力は弱く電流も減少し、H-隣接Siレスト原子の場合、Si吸着原子とSi探針に働く力は強く電流が増加した。Si-Si間の結合力は電子のトンネル遷移過程と同様、局所電子状態密度に強く依存する。
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