申請者が発案し予備的な実験により実現可能性が確認されている粒界トラッキング技術を、数万個レベルの粒子を高精度に同時追跡できるものに引き上げる。これには、各粒子の軌道予測や粒子凝集部の局所パターンマッチング技術(Spring モデルなど)を開発して対応する。これにより、材料中の多数の結晶粒を抽出できる。試料を回転しながら細束X線を走査し、3Dで内部各位置の結晶方位を解析するスキャン・ローテーションXRD技術を開発する。これらを組み合わせて結晶粒を3D 表示し、全結晶粒の結晶方位をすべて特定できる技術を完成する。
|