研究課題
基盤研究(A)
X線回折(XRD)法を援用した結晶粒界追跡法(GBT)は、材料変形中の個々の結晶粒の精密な解析を可能にする優れた手法である(DAGBT)。XRDとGBTは両方とも非破壊検査法であり、未変形状態から破壊までに至る金属の挙動を「その場」評価できる手法である。また、試験片の変形中には、GBTは結晶粒の形態に3Dでかるサブミクロンの分解能でアクセスでき、各結晶粒の詳細な解析が可能となる。本研究で開発したアルゴリズムにより、DAGBTは、GBTと合わせて、近接XRD回折の結果を基に、個々の結晶粒の結晶方位の詳細な情報を提供することが出来る。
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