| 研究課題/領域番号 |
20300018
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| 研究種目 |
基盤研究(B)
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| 配分区分 | 補助金 |
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| 応募区分 | 一般 |
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| 研究分野 |
計算機システム・ネットワーク
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| 研究機関 | 奈良先端科学技術大学院大学 |
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研究代表者 |
藤原 秀雄 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 教授 (70029346)
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| 研究分担者 |
井上 美智子 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 准教授 (30273840)
大竹 哲史 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20314528)
米田 友和 奈良先端科学技術大学院大学, 情報科学研究科, 助教 (20359871)
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| 研究期間 (年度) |
2008 – 2010
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| キーワード | VLSI設計技術 / VLSIのテスト / ネットワークオンチップ / テスト容易性 / 安全性(セキュリティ) / スキャン設計 |
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| 研究概要 |
(1)機能RTL回路に対するテスト容易化設計法(F-Scan法)を提案し、ベンチマーク回路による実験によりその有効性を評価した。(2)ネットワークオンチップの非同期インターコネクトを対象とし、非同期回路のテスト手法、テスト容易化設計法を提案した。(3)テスト容易性と安全性(セキュリティ)の両立を可能とするシフトレジスタ等価回路を用いた安全スキャン方式を提案し、その安全レベルを解析的に明らかにした。
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