| 研究概要 |
[INTPIX2,3のX線撮像分光能力の評価]X線を用いた各種の試験を行った.フォトンカウンティングとX線スペトルの取得に初めて成功した.ゲイン,エネルギー分解能,読み出しノイズの測定とFETデザインの選択を行った.最も改善を要するのは読み出しノイズである.要因の切り分けからADCまわりとKTCノイズが支配的であることがわかった.KTCノイズはXRPIX1で改善される予定である.ADCまわりについては,短期的には読み出し回路の改良,長期的にはADCの組み込みが必要であるという指針を得た.
[XRPIX1の詳細設計のプロセス]ピクセル毎に相関二重サンプリング回路を組み込み,コンパレーターにインバータチョッパ型を採用するなどの工夫を行った.無事素子は完成した.
[その他]X線評価実験に必要な設備(リファレンス検出器,クリーンブース)の整備を行った.
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