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2008 年度 実績報告書

Z偏光ラマン分光法とMAIR分光法による非平滑界面の構造解析

研究課題

研究課題/領域番号 20350035
研究機関東京工業大学

研究代表者

長谷川 健  東京工業大学, 大学院・理工学研究科, 准教授 (30258123)

キーワードZ偏光ラマン分光 / 非平滑界面 / 赤外MAIRS分光法 / プラズモン異方性解析 / 液液界面吸着 / 偏光解消度
研究概要

有機超薄膜の偏光ラマン分光測定を行うための装置の組上げを行った。ラマン分光器自体は平成20年度に導入したが,厚さ数nmの超薄膜を測定する感度を確保することと,偏向解消度の定量的な精度を確保するため,約一年にわたる調整が必要であった。初期に導入した光学部品に問題が見つかったケースが多く,特に分光器の偏光特性を取り除くための偏向解消板がうまく働かず,むしろ新たな装置関数を生み出して測定を乱す問題に翻弄された。最終的には,1/2波長板を使ってこの問題を解決することができ,きわめて精度の高い定量的な偏光ラマン分光測定が可能となった。
現在,薄膜の高感度測定の最適化をさらに進めており,全反射光学系の構築を完了し,水晶基板やCaF_2基板上の超薄膜測定と,液液界面での界面吸着種の測定に挑戦している。併せて,本課題の趣旨である非平滑界面として金属粒子薄膜のプラズモン異方性解析を進めており,偏光SERS測定として22年度に実施を予定している。

  • 研究成果

    (7件)

すべて 2009 2008 その他

すべて 雑誌論文 (3件) (うち査読あり 3件) 学会発表 (1件) 図書 (1件) 備考 (1件) 産業財産権 (1件) (うち外国 1件)

  • [雑誌論文] Analytical Understanding of Multiple-Angle Incidence Resolution Spectrometry Based on a Classical Electromagnetic Theory2009

    • 著者名/発表者名
      Yuki Itoh, Akiyoshi Kasuya, Takeshi Hasegawa
    • 雑誌名

      The Journal of Physical Chemistry A 113

      ページ: 7810-7817

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Temperature-Induced Molecular Structural Changes of Linear Poly(ethylene imine)in Water Studied by Mid-Infrared and Near-Infrared Spectroscopies2009

    • 著者名/発表者名
      Hiroyuki Kakuda, Tetsuo Okada, Takeshi Hasegawa
    • 雑誌名

      The Journal of Physical Chemistry B 113

      ページ: 13910-13916

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Development of UV-Visible Multiple-Angle Incidence Resolution Spectrometry and Application Study of Anisotropic Surface-Plasmon Excitation in a Silver Thin Film on a Glass Substrate2008

    • 著者名/発表者名
      Takeshi Hasegawa, Yuki Itoh, Akiyoshi Kasuya
    • 雑誌名

      Analytical Chemistry 80

      ページ: 5630-5634

    • 査読あり
  • [学会発表] 金属薄膜の経時変化をとらえた可視MAIRSスペクトルの二次元相関解析による解析2009

    • 著者名/発表者名
      粕谷明由・伊藤雄樹・岡田哲男・長谷川健
    • 学会等名
      日本分析化学会58分析年会
    • 発表場所
      北海道大学(札幌)
    • 年月日
      2009-09-24
  • [図書] 超分子サイエンス&テクノロジー-基礎からイノベーションまで-2009

    • 著者名/発表者名
      山田哲弘・長谷川健
    • 総ページ数
      9
    • 出版者
      エヌ・ティー・エス
  • [備考]

    • URL

      http://www.titech.ac.jp/whoswho/Profiles/0026/0010754/profile.html

  • [産業財産権] 分光解析装置及び分光解析方法2009

    • 発明者名
      長谷川健
    • 権利者名
      長谷川健
    • 産業財産権番号
      US2009-0316152
    • 取得年月日
      2009-12-24
    • 外国

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公開日: 2011-06-16   更新日: 2016-04-21  

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