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2010 年度 実績報告書

新しい結晶構造を持つ窒化アルミニウムの物性制御と深紫外発光デバイスへの展開

研究課題

研究課題/領域番号 20360008
研究機関京都大学

研究代表者

須田 淳  京都大学, 工学研究科, 准教授 (00293887)

キーワード窒化物半導体 / 窒化アルミニウム / ポリタイプ / 炭化珪素 / エピタキシー / 紫外線発光素子
研究概要

4H-SiC上へのアイソポリタイプ成長により得られる通常とは異なる結晶構造を持つAlN(4H-AlN)を利用した深紫外発光デバイスへの展開を目的として、(1)4H-AlGaN混晶の成長技術、(2)4H-AlN/4H-AlGaN量子井戸構造の作製とその評価、(3)4H-AlNへの不純物ドーピングに取り組んだ。最終年度の今年度は、(2)、(3)を中心に取り組んだ。(1)については、系統的な実験結果を整理し、また、詳細な評価を行うことで、(11-20)面上においてGaの取り込みが著しく少なくなる現象論的モデルを確立した。(2)については、これまでに確立した条件により、(1-100)面において量子井戸構造の作製に成功し、井戸幅に応じた発光シフト(量子閉じ込め効果)を確認し、また、無極性面量子井戸で期待される発光ピークが励起強度に依存しないこと(内部電界フリー量子井戸)を実現した。さらにAlGaNの成長が困難な(11-20)面で深紫外発光を実現する方法として、AlN/GaN短周期超格子の作製を試み、高品質な超格子構造の成長に成功し、強い深紫外発光を得た。(3)に関しては4H-AlNへのSiドーピングを試みた。対象資料として通常の結晶構造の2H-AlNへのSiドーピングを行い、比較検討を行った。無極性面では全般的に不純物が取り込まれやすいという傾向は得られたが、電気的、光学的に有意な結果を得るには至らなかった。酸素のバックグラウンドドーピングが大きいため、それに埋もれてしまったものと考えている。MBE装置の不純物管理(脱ガスやベーキング)をこれまで以上に徹底し、(成長温度を高くすると酸素の取り込みは減ることが分かっているので)より高い成長温度での系統的な実験を将来的には進める必要があると考えている。

  • 研究成果

    (6件)

すべて 2011 2010

すべて 雑誌論文 (4件) (うち査読あり 4件) 学会発表 (2件)

  • [雑誌論文] Reduction of Threading Dislocation Density in 2H-AlN Grown on 6H-SiC(0001) by Minimizing Unintentional Active-Nitrogen Exposure before Growth2011

    • 著者名/発表者名
      H.Okumura, T.Kimoto, J.Suda
    • 雑誌名

      Applied Physics Express

      巻: 4 ページ: 025502-(3)

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Origin of Etch Hillocks Formed on On-Axis SiC(000-1) Surfaces by Molten KOH Etching2011

    • 著者名/発表者名
      J.Suda, T.Kimoto
    • 雑誌名

      Japanese Journal of Applied Physics

      巻: 50 ページ: 038002-(2)

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Nonpolar 4H-Polytype AlN/AlGaN Multiple Quantum Well Structure Grown on 4H-SiC(1-100)2010

    • 著者名/発表者名
      M.Horita, T.Kimoto, J.Suda
    • 雑誌名

      Applied Physics Express

      巻: 3 ページ: 051001-(3)

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Enhancement of initial layer-by-layer growth and reduction of threading dislocation density by optimized Ga pre-irradiation in molecular-beam epitaxy of 2H-AlN on 6H-SiC(0001)2010

    • 著者名/発表者名
      J.Suda, T.Kimoto
    • 雑誌名

      Physica Status Solidi (C)

      巻: 7 ページ: 2094-2096

    • 査読あり
  • [学会発表] Reduction of Threading Dislocation Density in 2H-AlN on 6H-SiC (0001) by Minimizing Nitrogen-Plasma Exposure to SiC Surface before Growth2010

    • 著者名/発表者名
      H.Okiumura, T.Kimoto, J.Suda
    • 学会等名
      International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN2010)
    • 発表場所
      Tampa, Florida, USA
    • 年月日
      2010-09-23
  • [学会発表] Anomalously Low Ga Incorporation in High-Al Content AlGaN Grown on (11-20) Nonpolar Plane by Molecular Beam Epitaxy2010

    • 著者名/発表者名
      S.Ueta, M.Horita, T.Kimoto, J.Suda
    • 学会等名
      International Workshop on Nitride Semiconductors (IWN2010)
    • 発表場所
      Tampa, Florida, USA
    • 年月日
      2010-09-22

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公開日: 2012-07-19  

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