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2009 年度 実績報告書

単電子帯電構造を用いた磁性ナノデバイスの作製とゲート電界による磁気抵抗の変調制御

研究課題

研究課題/領域番号 20360136
研究機関東京農工大学

研究代表者

白樫 淳一  東京農工大学, 大学院・共生科学技術研究院, 准教授 (00315657)

キーワードマイクロ・ナノデバイス / 磁性 / スピンエレクトロニクス / 少数電子素子 / 強磁性単電子トランジスタ / トンネル磁気抵抗効果 / エレクトロマイグレーション / ナノギヤップ
研究概要

本研究課題では、以下の2つの項目を研究目的としている。
(1)エレクトロマイグレーションを用いたナノパターニング技術の開発:電荷の移動に伴い誘起されるエレクトロマイグレーション現象における様々な物理的・化学的反応過程を「その場」制御することで、非常に簡便に10nm以下の単電子帯電構造を作製することが可能な技術を開発する。
(2)強磁性単電子デバイス技術の開発:電荷とスピン(電子の2自由度)の制御が可能な新しいデバイス技術を開発する。単電子デバイスの基本原理である単電子帯電効果と強磁性材料の特徴であるスピンが相互作用を及ぼすことで、素子のトンネル磁気抵抗効果の強度増強現象やゲート電圧などの素子制御パラメータに対するトンネル磁気抵抗効果のヒステリシス現象など、これまで知られていない斬新な素子機能を発揮できる可能性を有する。
第2年度(平成21年度)では、昨年度に確立したナノギャップ電極間での電界放射電流誘起型エレクトロマイグレーション法を利用したプレナー型ナノスケールトンネルデバイス作製技術(アクティベーション法)により、強磁性材料としてNiを用いたプレナー型強磁性単電子トランジスタ(FMSET)を作製した。アクティベーション時の各種制御パラメータを検討することで、FMSETの素子特性制御を行った。これらの検討から、室温下において明瞭な単電子帯電効果の観測に成功し、ナノギャップ電極での初期ギャップ幅やアクティベーション時の設定電流値がFMSET特性を制御する上で重要なパラメータであることが判明した。実際に、これらを調整することで、FMSETの帯電エネルギーを制御することに成功した。以上から、電界放射電流を利用したエレクトロマイグレーション現象の発現による新しいナノ加工技術の知見を得ることが出来た。本手法をナノギャップ電極に対して適用することで単電子トランジスタを簡便に作製でき、アクティベーション法による容易な単電子デバイス特性制御の可能性が示された。

  • 研究成果

    (5件)

すべて 2010 2009 その他

すべて 雑誌論文 (3件) (うち査読あり 3件) 学会発表 (1件) 備考 (1件)

  • [雑誌論文] Fabrication of Planar-Type Ferromagnetic Tunnel Junctions Using Electromigration Method and Its Magnetoresistance Properties2010

    • 著者名/発表者名
      Y.Tomoda, M.Hanada, W.Kume, S.Itami, T.Watanabe, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      J.Phys.Conf.Ser. 200

      ページ: 062035

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Magnetoresistance Properties of Planar-Type Tunnel Junctions with Ferromagnetic Nanogap System Fabricated by Electromigration Method2009

    • 著者名/発表者名
      Y.Tomoda, K.Takahashi, M.Hanada, W.Kume, S.Itami, T.Watanabe, J.Shirakashi
    • 雑誌名

      IEEE Trans.Mag. 45

      ページ: 3480-3483

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Scratching Properties of Nickel-Iron Thin Film and Silicon Using Atomic Force Microscopy2009

    • 著者名/発表者名
      A.A.Tseng, J.Shirakashi, S.Nishimura, K.Miyashita, A.Notargiacomo
    • 雑誌名

      J.Appl.Phys. 106

      ページ: 044314

    • 査読あり
  • [学会発表] Fabrication of Single-Electron Transistors Using Field-Emission-Induced Electromigration2009

    • 著者名/発表者名
      W.Kume, Y.Tomoda, M.Hanada, J.Shirakashi
    • 学会等名
      International Conference on Nanoscience and Technology China 2009 (ChinaNANO 2009)
    • 発表場所
      Beijing, China
    • 年月日
      20090901-20090903
  • [備考]

    • URL

      http://www.tuat.ac.jp/~nanotech/index.htm

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公開日: 2011-06-16   更新日: 2016-04-21  

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