| 研究概要 |
本研究の目的は,講義と連動したデモンストレーション実験を教室で行い,あたかも実際に本物の実験をすることと同じように,測定条件の変更や評価サンプルの切替,評価実験の切替を遠隔で可能とし,また再生速度を自由にコントロールできる再現実験を可能とする機能を持つネットワーク実験室のプロットフォーム設計の構築である.
平成21年度は,ネットワーク実験室の実験テーマとしてLEDの電流電圧特性評価を中心にプラットフォームの高機能化設計を行った.複数評価サンプルを用いて,LEDの発光色と電流電圧特性との相関実験,LEDの逆方向時におけるアバランシア電流の発生時に観察できる発光現象の確認,LEDのストレス試験(逆方向耐圧試験)や順方向過入力試験による電流電圧特性の特性変動を,1個のネットワーク実験室で遠隔実験を可能とすることが出来た.従来は,それぞれ単機能実験で構成された複数のネットワーク実験室を用意する必要があったが,単一のネットワーク実験室に測定系の切替機能と評価サンプルの回路切替機能およびXYステージを用いたLEDチップの発光状況を確認するための顕微鏡視野移動機能の統合的制御機能を構築することで,ストレス試験のように,LEDの劣化状況を順方向特性や逆方向特性で確認することが可能となった.特に,この機能によりLEDの逆方向耐圧劣化をアバランシア電流とその発光特性との関連性の基礎データを取得することができ,半導体デバイスの講義におけるデモンストレーションとしてインパクトのある教材を作成することができた.
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