研究課題
基盤研究(C)
機器の故障発生確率を求める際、多数の故障要因が考えられる場合にはまず主たる要因を統計的分類手法によって特定し、その後で特定された要因下での故障発生確率やリスク分析を行なう新しい方法を提案している。分類精度を上げるには、決定木のような分類器を単一で用いるのではなく、複数同時に用いるアンサンブル手法を改良し最適な方法を示した。また、遺伝的アルゴリズムを援用したバンプ探索法を用いると、高い分類精度を保ちながら計算も速くなることが分かった。
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Information 掲載決定
New Generation Computing Vol.29掲載決定
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http://hirose.ces.kyutech.ac.jp/HirosePublications.html