2012 年度研究成果報告書

教育の離職率に対する効果

研究課題

研究課題/領域番号	20530193
研究種目	基盤研究(C)
配分区分	補助金
応募区分	一般
研究分野	応用経済学
研究機関	横浜国立大学
研究代表者	大森義明横浜国立大学, 経済学部, 教授 (10272890)
連携研究者	ライトオードリオハイオ州立大学, 経済学部, 教授
研究期間 (年度)	2008 – 2012
キーワード	ハザード / 教育 / 離職
研究概要	Han and Hausman(1990)とMeyer(990)により提案されたのと似た,柔軟なパラメトリック・ベースラインハザードを持つ比例ハザードモデル(PHM)にYamaguchi(198)の固定効果最大尤度法(FEML)を拡張する.この手法を用い,米国の若い男性のサンプルの勤続年数モデルを推定し,観察不可能な固定効果を考慮し損なうと,教育の負の効果に下方バイアスが生じることを示す.