研究課題
基盤研究(C)
X線回折データを最大エントロピー法により解析し,静電ポテンシャルを求める方法を発展させ,任意の結晶系に対して解析できるようにした.また,こうして得られたポテンシャルから電場ベクトル等を計算し,3次元で可視化するソフトの作成を行った.さらに,静電ポテンシャルをもとに電荷密度におけるAIM(Atom in Molecule)解析に対応する解析手法を新たに開発した.そして,これらの手法を様々な物質に適応し,その有効性を示した
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