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メルト包有物の二次イオン質量分析（SIMS）のための標準ガラス試料マウントの作成、メルト包有物の試料調整、分析予定のメルト包有物試料の状態把握と金蒸着を行った。メルト包有物のEPMAおよびSIMS分析については、使用予定だったEPMAが故障し、本年度内に使用できなかったので、次年度に行うことにした。
１．本研究で昨年までに作成した、玄武岩、安山岩、デイサイトおよび流紋岩の組成のガラス試料について、粉砕後、各試料を樹脂にマウントし、研磨を行い、SIMS分析の標準ガラス試料マウントを作成した。この標準ガラス試料マウントは様々な化学組成のガラスを含んでおり、このマウントを使用することで多様な化学組成のメルト包有物を迅速に分析することが可能となった。
２．鬼界葛原、鬼界アカホヤ、姶良、阿多および阿蘇カルデラ噴火試料について、岩石粉砕と鉱物分離を実施し、メルト包有物を持つ鉱物を取り出した。鉱物を樹脂にマウントし、研磨を行い、メルト包有物を露出させた。光学顕微鏡観察により、各噴火メルト包有物の状態を観察し、分析可能であることを確認した。
３．標準ガラス試料とメルト包有物のSIMS分析は同時に行う必要があるので、標準ガラス試料マウント1個とメルト包有物マウント3個を1つのホルダーにセットした。このようなホルダーを、鬼界葛原は1個、鬼界アカホヤは4個、姶良は2個、阿多は1個、阿蘇は2個、作成した。
４．上記メルト包有物のEPMAおよびSIMS分析に必要である、メルト包有物試料の金蒸着を実施し、分析準備を完了した。
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