研究課題
基盤研究(C)
半導体基本素子であるMOS(Metal Oxide Semiconductor)を構成するゲート絶縁膜、シリコン、そして両者の界面に存在する欠陥構造を対象に、第一原理計算を用いて、その特性を評価した。具体的な系として、Si/SiO_2界面のPbセンター、Si基板中のボロンクラスタ(B_<12>)、そしてハフニウム絶縁膜中の酸素欠損、ハフニウム欠損の3種類の欠陥について詳細な検討を行い、その特性を明らかとした。
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