| 研究課題/領域番号 |
20560097
|
|---|
| 研究機関 | 独立行政法人産業技術総合研究所 |
|---|
研究代表者 |
鈴木 隆之 独立行政法人産業技術総合研究所, 先進製造プロセス研究部門, 研究グループ長 (40357299)
|
|---|
| 研究分担者 |
西村 良弘 独立行政法人産業技術総合研究所, 先進製造プロセス研究部門, 主任研究員 (90357723)
笹本 明 独立行政法人産業技術総合研究所, 先進製造プロセス研究部門, 主任研究員 (90357129)
|
|---|
| キーワード | 機械材料・材料力学 / 磁性 / 長寿命化 / 悲破壊検査 / 欠陥 |
|---|
| 研究概要 |
先進磁気センサであるFGセンサを用いた非破壊評価システムを整備するとともに、本システムを用いた様々な欠陥近傍の漏洩磁束密度の計測およびその計測データの解析プログラムの開発を継続した。
(1)先進磁気センサを用いた非破壊評価装置の整備の継続
・従来の非破壊評価システムとレーザー変位計とを組み合わせることにより、先進磁気センサによる計測が試験片上で自動的に開始できるように改良した。また、複数のセンサを用いてセンサ間の干渉を検討した結果、センサ間距離が10mm以上互いに離れていれば干渉は生じないことを確認した。
・複雑形状の欠陥評価として、平面板上の表面欠陥のみならず、円柱状の表面欠陥、さらにはねじ状の表面欠陥についての漏洩磁束密度をFGセンサを用いて計測し、試験片形状および欠陥形状と漏洩磁束密度の違いを明らかにした。
(2)解析結果と実験結果との統合
平成21年度に引き続き、順・逆解析プログラムを高度化し、非貫通複雑形状解析き裂へ拡張した。これまで実施してきたフーリエ変換、逆フーリエ変換を用いる方法、特異値分解法、Tikhonovの方法について高度化を進めた。特に、実験結果と対応することができるよう、円筒状の欠陥等平板以外の場合に関しても逆解析を実施できるように解析プログラムを拡張した。
(3)解析結果と実験結果との統合の着手
(1)で計測した様々な複雑形状欠陥の漏洩磁束密度をもとに、(2)の解析を行い、高感度磁気センサによる計測、およびその漏洩磁束密度データを用いた逆解析の結果を統合し、非破壊評価システムを構築した。本システムを用いることにより、平板上の表面欠陥のみならず円筒状の表面欠陥等の様々な形状の複雑形状欠陥の評価まで可能であることを示した。
|
