自己整合微粒子操作基盤技術創出のための超低電圧集積回路の研究

2010 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 20560324
• 研究種目: 基盤研究(C)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 電子デバイス・電子機器
• 研究機関: 大阪大学
• 研究代表者: 松岡 俊匡 大阪大学, 工学研究科, 准教授 (80324820)
• 研究期間 (年度): 2008 – 2010
• キーワード: 集積回路 / 低消費電力 / 誘電泳動 / 自己整合 / センサ

研究概要

状況の多角的な判断や冗長性による誤動作回避などが期待できるスマート・センサの形態として複数のセンサをCMOS集積回路上に融合したセンサ・オン・CMOSを考えると、従来のリソグラフィとエッチングを基盤とする加工技術だけでは、混載できるセンサの種類の数にコスト的に限界がある。そこで、誘電泳動に基づき溶液中で特定の微粒子を捕獲する微細四重極電極とこれを駆動するAC非接触給電小型駆動回路を用いる「自己整合微粒子操作技術」に関する基礎的検討を実施し、その可能性を示した。

研究成果

• [雑誌論文] A Design for Ultra-Low-Voltage CMOS Digital Circuits with Performance Characteristics Compensation (2010)
  • 著者名/発表者名: 王軍, 安江一紘, 松岡俊匡, 谷口研二
  • 雑誌名: Far East J.Electronics and Communications Vol.5, No.1 ページ: 59-65
  • 査読あり
• [雑誌論文] Low-Voltage Wireless Analog CMOS Circuits toward 0.5V Operation (2010)
  • 著者名/発表者名: T.Matsuoka, J.Wang, T.Kihara, H.Ham, K.Taniguchi
  • 雑誌名: IEICE Trans. Fundamentals(招待論文) Vol.E93-A, No.2 ページ: 356-366
• [雑誌論文] 超低電圧動作ディジタルCMOS 回路の特性補償に関する検討 (2010)
  • 著者名/発表者名: 安江一紘, 王軍, 松岡俊匡, 谷口研二
  • 雑誌名: 電子情報通信学会論文誌C Vol.J93-C, No.2 ページ: 75-77
  • 査読あり
• [雑誌論文] Design of A 0.5V Op-Amp Based on CMOS Inverter Using Floating Voltage Sources (2008)
  • 著者名/発表者名: J.Wang, T.-Y.Lee, D.-G.Kim, T.Matsuoka, K.Taniguchi
  • 雑誌名: IEICE Trans.Electron Vol.E91-C, No.8 ページ: 1375-1378
  • 査読あり
• [学会発表] 水中センサ用無線給電回路の検討 (2010)
  • 著者名/発表者名: 宮脇祐介, 上田瞬, 松岡俊匡, 谷口研二
  • 学会等名: 電子情報通信学会関西支部 第15回学生会研究発表講演会
  • 発表場所: 大阪大学
  • 年月日: 2010-03-10
• [学会発表] パルス駆動誘電泳動を用いた微粒子操作技術 (2010)
  • 著者名/発表者名: 上田瞬, 宮脇祐介, 岡俊匡, 谷口研二
  • 学会等名: 電子情報通信学会関西支部 第15回学生会研究発表講演会
  • 発表場所: 大阪大学
  • 年月日: 2010-03-10
• [学会発表] 超低電圧動作デジタルCMOS 回路の特性補償に関する検討 (2009)
  • 著者名/発表者名: 安江一紘, 王軍, 松岡俊匡, 谷口研二
  • 学会等名: LSI とシステムのワークショップ2009
  • 発表場所: 北九州市
  • 年月日: 20090518-20090520
• [学会発表] Study of Subthreshold-Operation CMOS Logic Circuit with Body-Bias-Control (2008)
  • 著者名/発表者名: 安江一紘, 王軍, 松岡俊匡, 谷口研二
  • 学会等名: IEEE International Meeting for Future of Electron Devices, Kansai(pp.95-96)
  • 発表場所: Osaka, Japan
  • 年月日: 20080522-20080523
• [備考] ホームページ等
  • URL: http://www.si.eei.eng.osaka-u.ac.jp/