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2008 年度 実績報告書

ガラス成形金型用Ptフリーアモルファス合金のコンビナトリアル探索とそのナノ加工

研究課題

研究課題/領域番号 20676002
研究機関東京工業大学

研究代表者

秦 誠一  東京工業大学, 精密工学研究所, 准教授 (50293056)

キーワード金型 / ガラス成形 / アモルファス合金 / コンビナトリアル探索 / ナノ加工 / 結晶化開始温度 / Ptフリー
研究概要

本研究では,耐熱性,耐久性,加工性に優れ,希少元素であるPtフリーの新しいガラス成形金型材料の探索と,その精密微細加工(ナノ加工)を目的としている.当該研究期間内には,以下の項目について研究した.
(1) ガラス成形金型に適したPtフリーの新しいアモルファス合金の探索
(1)予備評価用薄膜ライブラリの製作
これまでの研究成果を元に,Ptフリーでもガラス成形に耐えられる耐熱性,機械的強度,耐ガラス融着性,耐高温酸化性を有する可能性のある合金系(Mo系,Ru系,Ni系,Cu系など)を,コンビナトリアルアークプラズマ蒸着(CAPD)により成膜し,予備評価用薄膜ライブラリを製作した.この予備評価用薄膜ライブラリをIP-XRD,μ-EDXで相,組成を測定し,アモルファス合金となる領域を特定した.
(2)切削性・Tx評価用薄膜ライブラリの製作
導入した基板回転式NFTS成膜装置を用いて,上記予備評価により絞り込まれた候補合金系の切削性・Tx評価用薄膜ライブラリを製作した.
(2) コンビナトリアル結晶化開始温度(Tx)測定法の開発
(1)測定精度の確認とその向上
結晶化に伴う放射率変化を利用したTxの測定において,基板や周辺からの赤外線放射の影響を明らかとし,より高精度なTxの測定可能な,新しい薄膜ライブラリを実現した.
(2)コンビナトリアルTx測定の実現
測定精度を確認・向上させた放射率変化を利用したTx測定方法を利用して,前述の評価用薄膜ライブラリを真空加熱炉(購入予定設備)で加熱しながら,赤外線サーモグラフィにより,その温度を測定することで,組成およびTxの異なる多数のサンプルを一度に測定する方法を実現した.

  • 研究成果

    (14件)

すべて 2009 2008 その他

すべて 雑誌論文 (8件) (うち査読あり 6件) 学会発表 (3件) 図書 (1件) 備考 (1件) 産業財産権 (1件)

  • [雑誌論文] Characteristics of Cu-Zr Thin Film Metallic Glasses Fabricated by a Carousel-Type Sputtering System2009

    • 著者名/発表者名
      Junpei SAKURAI, Seiichi HATA, Akira SHIMOKOHBE
    • 雑誌名

      Jpn. J. Appl. Phys. 48

      ページ: 025503-1-025503-6

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Measurement of Crystallization Temperature Using Thermography for Thin Film Amorphous Alloy Samples2009

    • 著者名/発表者名
      Seiichi Hata, Yuko Aono, Junpei Sakurai, Akira Shimokohbe
    • 雑誌名

      Applied Physics Express 2(in press)

    • 査読あり
  • [雑誌論文] マイクロ・ナノ加工技術の現状と将来展望2009

    • 著者名/発表者名
      秦 誠一
    • 雑誌名

      機械の研究 61

      ページ: 331-335

  • [雑誌論文] 新しいPt基アモルファス合金を用いたガラスレンズ成形用金型の試作2008

    • 著者名/発表者名
      秦 誠一, 桜井淳平, 下河辺明
    • 雑誌名

      日本機械学会論文集C編 74

      ページ: 1020-1025

    • 査読あり
  • [雑誌論文] In situ analysis of the thermal behavior in the Zr-based multi-component metallic thin film by pulsed laser deposition combined with UHV-laser microscope system2008

    • 著者名/発表者名
      Yuji Matsumoto, Miki Hiraoka, Masao Katayama, Seiichi Hata, Mikio Fukuhara, Takeshi Wada, Hisamichi Kimura, Akihisa Inoue
    • 雑誌名

      Materials Science & Engineering B 148

      ページ: 179-182

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Behavior of Joining Interface between Thin Film Metallic Glass and Silicon Nitride at Heating2008

    • 著者名/発表者名
      Seiichi Hata, Ryusuke Yamauchi, Junpei Sakurai, Akira Shimokohbe
    • 雑誌名

      Materials Science & Engineering B 148

      ページ: 149-153

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Laser Forming of Thin Film Metallic Glass2008

    • 著者名/発表者名
      Masaaki OTSU, Yuki IDE, Junpei SAKURAI Seiichi HATA, Kazyaki TAKASHIMA
    • 雑誌名

      Journal of Solid Mechanics and Materials Engineering 3

      ページ: 387-395

    • 査読あり
  • [雑誌論文] コンビナトリアル技術を用いた新しいMEMS材料の探索2008

    • 著者名/発表者名
      秦 誠一
    • 雑誌名

      化学工業 59

      ページ: 73-77

  • [学会発表] Need-based development of materials for micro and nano scale stractures using combinatorial technology2008

    • 著者名/発表者名
      Seiichi Hata, Yuko Aono, Junpei Sakurai, Akira Shimokohbe
    • 学会等名
      25th Sensor Symposium, IEEJ SMS Symposium on Sensors, Micromachines & Applied Systems
    • 発表場所
      Okinawa, Japan
    • 年月日
      2008-10-22
  • [学会発表] Search for Novel MEMS Materials using a Combinatorial Method2008

    • 著者名/発表者名
      Seiichi Hata, Ryusuke Yamauchi, Taiyo Ueshima, Junpei Sakurai, Akira Shimokohbe
    • 学会等名
      3rd JSME/ASME International Conference on Materials and Processing (ICM&P 2008)
    • 発表場所
      Northwestern, Evanston, USA
    • 年月日
      2008-10-09
  • [学会発表] New Measurement Method for Crystallization Temperature of Thin Film Amorphous Alloy2008

    • 著者名/発表者名
      Yuko Aono, Seiichi Hata, Junpei Sakurai, Akira Shimokohbe
    • 学会等名
      JUNIOR EUROMAT 2008
    • 発表場所
      Lausanne, Switzerland
    • 年月日
      2008-06-15
  • [図書] 新機能材料 金属ガラスの基礎と産業への応用2009

    • 著者名/発表者名
      秦 誠一(基礎31. 薄膜化, 応用10. マイクロアクチュエータ 分担)
    • 総ページ数
      630
    • 出版者
      (株)テクノシステム
  • [備考]

    • URL

      http://www.nano.pi.titech.ac.jp/hata-index.htm

  • [産業財産権] 相転移する試料の相転移条件の測定方法およびそのための測定装置2008

    • 発明者名
      秦 誠一, 桜井淳平, 青野祐子
    • 権利者名
      東京工業大学
    • 産業財産権番号
      特願2008-107948
    • 出願年月日
      2008-04-17

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公開日: 2010-06-11   更新日: 2016-04-21  

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