ガラス成形金型用Ptフリーアモルファス合金のコンビナトリアル探索とそのナノ加工

2010 年度 自己評価報告書

• 研究課題/領域番号: 20676002
• 研究種目: 若手研究(S)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 生産工学・加工学
• 研究機関: 東京工業大学
• 研究代表者: 秦 誠一 東京工業大学, 精密工学研究所, 准教授 (50293056)
• 研究期間 (年度): 2008 – 2012
• キーワード: ナノ材料 / 精密部品加工 / 金型 / アモルファス合金 / ガラス成形 / 金属ガラス

研究概要

より高性能な非球面ガラスレンズ成形金型材料の実現とそのナノ加工を目指し,稀少元素であるPt フリーの革新的ガラスレンズ成形金型材料を,新しいコンビナトリアル技術,計測技術を利用することで,効率的に探索する.具体的には,以下の項目を研究目的として研究を進める.
(1)ガラス成形金型に適したPtフリーの新しいアモルファス合金の探索
(2)コンビナトリアル結晶化開始温度(Tx)測定法の開発
(3)Ptフリーアモルファス合金のナノ成形によるクローン金型の実現

研究成果

• [雑誌論文] Effect of sputtering method on characteristics of amorphous Ni-Nb-Zr alloys for glass lenses molding die materials (2010)
  • 著者名/発表者名: J.Sakurai, M.Abe, M.Ando, Y.Aono, S.Jiang, A.Shimokohbe, S Hata
  • 雑誌名: Journal Solid Mechanics and Materials Engineering 4 ページ: 1742-1753
  • 査読あり
• [雑誌論文] High-Throughput Measurement Method for Time-Temperature-Trans-formation Diagram of Thin Film Amorphous Alloys (2010)
  • 著者名/発表者名: Y.Aono, J.Sakurai, T.Ishida, A.Shimokohbe, S.Hata
  • 雑誌名: Applied Physics Express 3 ページ: 125601
  • 査読あり
• [雑誌論文] Measurement of Crystallization Tem-perature Using Thermography for Thin Film Amorphous Alloy Samples (2009)
  • 著者名/発表者名: S.Hata, Y.Aono, J.Sakurai, A.Shimokohbe
  • 雑誌名: Applied Physics Express 2 ページ: 036501
  • 査読あり
• [学会発表] Combinatorial searching for Ni-Nb-Zr amorphous alloys as glass lens molding die materials (2010)
  • 著者名/発表者名: J.Sakurai, M.Abe, M.Ando, S.Hata
  • 学会等名: Abstracts International Conference on Precision Engineering, 62
  • 発表場所: Singapore
  • 年月日: 20100700
• [学会発表] Combinatorial Technology on Searching for Novel Amorphous Alloys (2010)
  • 著者名/発表者名: Seiichi Hata, Junpei Sakurai, Y. Aono, N. Tamujidi, Y. Matsumoto and A. Shimokohbe
  • 学会等名: The 6th International Workshop on Combinatorial Materials Science and Technology
  • 発表場所: Hokkaido, Japan (Invited)
  • 年月日: 2010-10-21
• [備考] ホームページ
  • URL: http://www.nethata.pi.titech.ac.jp/
• [産業財産権] コンビナトリアルマテリアル用評価基板 (2010)
  • 発明者名: 秦誠一, 山内隆介, 桜井淳平, 下河辺明
  • 権利者名: 東京工業大学
  • 産業財産権番号: 特許公報,特許第4560628号
  • 取得年月日: 2010-08-06
• [産業財産権] 相転移する試料の相転移条件の測定方法およびそのための測定装置 (2008)
  • 発明者名: 秦誠一, 桜井淳平, 青野祐子
  • 権利者名: 東京工業大学
  • 公開番号: 公開特許公報,特開2010-48618
  • 出願年月日: 2008-08-20