元素分析AFM装置XANAMの開発

2011 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 20686004
• 研究種目: 若手研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 名古屋大学 (2009-2011); 北海道大学 (2008)
• 研究代表者: 鈴木 秀士 名古屋大学, 工学研究科, 准教授 (30322853)
• 研究期間 (年度): 2008 – 2011
• キーワード: 走査プローブ顕微鏡(SPM) / 非接触原子間力顕微鏡(NC-AFM) / 量子ビーム / 放射光X線 / 表面元素分析 / 表面化学分析 / XANAM

研究概要

絶縁体表面にも適用可能な非接触原子間力顕微鏡と放射光X線を組み合わせた新しいナノスケール元素分析・化学状態分析法、X線支援非接触原子間力顕微鏡(X-ray Aided Noncontact Atomic force microscopy, XANAM)の開発を行ってきた。これは探針-試料間の相互作用を試料原子の内殻電子励起が可能なX線で人為的に変化させることで、探針直下の元素種の同定や化学状態識別を可能とする手法であり、相互作用のX線による変化を詳細に調べ、また信号の高感度化、高空間分解能化に取り組み、探針によって元素種の識別が可能であることを示した。

研究成果

• [雑誌論文] Modulating the Immobilization Process of Au Nanoparticles on TiO2(110) by Electrostatic Interaction Between the Surface and Ionic Liquids (2011)
  • 著者名/発表者名: S. Suzuki, Y. Ohta, T. Kurimoto, S. Kuwabata, and T. Torimoto
  • 雑誌名: Phys. Chem. Chem. Phys. 巻: 13 ページ: 13585-13593
  • DOI: DOI:10.1039/C1CP20814D
  • 査読あり
• [雑誌論文] STM studies on the reconstruction of the Ni2P(10-10) surface (2010)
  • 著者名/発表者名: D. Guo, Y. Nakagawa, H. Ariga1, S. Suzuki, K. Kinoshita, T. Miyamoto, S. Takakusag, K. Asakura, S. Otani, and S. T. Oyama
  • 雑誌名: Surf. Sci. 巻: 604 ページ: 1347-1352
  • DOI: DOI:10.1016/j.susc.2010.03.024
  • 査読あり
• [雑誌論文] What is the interaction between the atomically-dispersed Ni and oxide surfaces? (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Koike, W.-J. Chun, K. Ijima, S. Suzuki, and K. Asakura
  • 雑誌名: Mater. Trans. 巻: 50 ページ: 509-515
  • DOI: DOI:10.2320/matertrans.MBW200830
  • 査読あり
• [雑誌論文] Atomically Dispersed Cu Species on a TiO2(110) Surface Precovered with Acetic Anhydride (2009)
  • 著者名/発表者名: W.-J. Chun, Y. Koike, H. Ashima, K. Kinoshita, K. Ijima, K. Fujikawa, S. Suzuki, M. Nomura, Y. Iwasawa, and K. Asakura
  • 雑誌名: Chem. Phys. Lett. 巻: 470 ページ: 99-102
  • DOI: DOI:10.1016/j.cplett.2009.01.030
  • 査読あり
• [雑誌論文] Adsorption structure of Acetic Anhyhdride on a TiO2(110) Surface Observed by Scanning Tunneling Microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: K. Kinoshita, S. Suzuki, W.-J. Chun, S. Takakusagi, and K. Asakura
  • 雑誌名: Surf. Sci. 巻: 603 ページ: 552-557
  • DOI: DOI:10.1016/j.susc.2008.12.019
  • 査読あり
• [雑誌論文] Scanning Tunneling Microscopy and Photoemission Electron Microscopy Studies on Single Crystal Ni2P Surfaces (2009)
  • 著者名/発表者名: S. Suzuki, Md. G. Moula, T. Miyamoto, Y. Nakagawa, K. Kinoshita, K. Asakura S. T. Oyama, and S. Otani
  • 雑誌名: J. Nanosci. Nanotechnol. 巻: 9 ページ: 195-201
  • DOI: DOI:10.1166/jnn.2009.J051
  • 査読あり
• [雑誌論文] Development of a novel elemental analysis method based on NC-AFM in combination with SR X-rays (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Suzuki
  • 雑誌名: Part A Highlights in Photon Factory Activity Report 2007 ページ: 58
  • URL: http://pfwww.kek.jp/acr2007pdf/part_a.html
  • 査読あり
• [学会発表] Density Control of NPs Immobilized on TiO2(110) through Electrostatic Interaction with Ionic Liquids (2011)
  • 著者名/発表者名: S. Suzuki, Y. Ohta, T. Kurimoto, S. Kuwabata, and T. Torimoto
  • 学会等名: 14th Asian Chemical Congress 2011(14ACC)
  • 発表場所: Bangkok, Thailand(Invited)
  • 年月日: 20110905-08
• [学会発表] Nano-Chemical Analysis on metal/oxide surfaces by means of XANAM (2010)
  • 著者名/発表者名: S. Suzuki, Y. Nakagawa, K. Kinoshita, K. Fujikawa, W.-J. Chun, M. Nomura, and K. Asakura
  • 学会等名: 7th International Workshop on Oxide Surfaces(IWOX-VII)
  • 発表場所: Echigo-Yuzawa, Japan
  • 年月日: 20100111-15
• [学会発表] Immobilization of Au Nanoparticles Prepared by Sputter-Deposition in Ionic Liquids, on a TiO2(110) Single Crystal Surface (2010)
  • 著者名/発表者名: S. Suzuki, Y. Ohta, K. Okazaki, S. Kuwabata, T. Torimoto
  • 学会等名: International Symposium on Integrated Molecular/Materials Engineering
  • 発表場所: Changzhou, China(Invited)
  • 年月日: 2010-09-20
• [学会発表] Bias Effect on the XANAM Measurement (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Suzuki, Y. Nakagawa, K. Kinoshita, K. Fujikawa, W.-J. Chun, M. Nomura, and K. Asakura
  • 学会等名: 16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy(ICSPM16)
  • 発表場所: Atagawa, Japan
  • 年月日: 20081211-13
• [学会発表] XANAM[II]. X-ray Induced Force Change Image- (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Suzuki, Y. Koike, K. Kinoshita, Y. Nakagawa, K. Fujikawa, W.-J. Chun, M. Nomura, and K. Asakura
  • 学会等名: 11th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy(NC-AFM2008)
  • 発表場所: Madrid, Spain
  • 年月日: 20080916-19
• [備考] ホームページ
  • URL: http://profs.provost.nagoya-u.ac.jp/view/html/100000120_ja.html
• [備考]
  • URL: http://researchmap.jp/read0065356