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2009 年度 実績報告書

安全性と製造検査容易性の両立したLSI設計方法の研究法の研究

研究課題

研究課題/領域番号 20700050
研究機関九州大学

研究代表者

吉村 正義  九州大学, システム情報科学研究院, 助教 (90452820)

キーワードディペンダブル・コンピユーフィング / 暗号・認証等 / テスト容易化設計 / システムLSI / 安全性
研究概要

今年度は4つの研究目標に対して、それぞれ以下のような研究を行った。
(1) 秘密情報の安全性の定量化と安全性を阻害する要因の明確化
秘密情報が搭載されるLSIにおいて、安全性を定量的に測定するために、相互情報量を用いた尺度を提案した。その尺度に基づいて、安全性を阻害する要因を定量的に評価した。
また秘密情報が搭載されるLSIにおいて、安全性を担保する回路のアーキテクチャを抽出し、まずアーキテクチャのどの構成要素が秘密情報の秘匿に貢献しているかの解析および評価を行った。具体的には共通鍵方式の標準的な暗号回路であるRSAを例にとって解析と評価を行った。
(2) 製造検査容易性を推定および計測技術の確立
秘密情報を保持するために、1) で検討したアーキテクチャの当該部分をノンスキャン設計とした回路に対しての製造検査容易性に対する評価を行った。具体的には、順序回路故障シミュレータを用いて、検査用のパタンを入力し、評価指標のひとつである故障検出率を求めた。また機能とは別に製造テストのみに用いるテストポイント挿入技術を用いて、秘密保持性を維持しつつ、検査容易性を向上させる技術を提案し、評価を行った。
(3) 検査系列自動生成技術開発
可制御性と可観測性がないノンスキャンの回路に対する検査系列自動生成技術の検討を行った。そこでは機能的時間展開モデルを用いて、検査系列の生成を行った.また検査系列の生成の難易度が変化するかの評価を行った。

  • 研究成果

    (14件)

すべて 2010 2009

すべて 学会発表 (14件)

  • [学会発表] 順序回路のソフトエラー耐性評価手法の状態数削減による高速化2010

    • 著者名/発表者名
      赤峰悠介
    • 学会等名
      VLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      沖縄県男女共同参画センター
    • 年月日
      2010-03-12
  • [学会発表] マルチサイクルキャプチャ遷移故障テスト生成を用いたテスト不可能故障の原因解析2010

    • 著者名/発表者名
      小河宏志
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館
    • 年月日
      2010-02-15
  • [学会発表] 遷移故障テスト圧縮指向制御ポイント挿入法2010

    • 著者名/発表者名
      湯本仁高
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      機械振興会館
    • 年月日
      2010-02-15
  • [学会発表] RSA暗号回路の安全なテスト容易化設計2009

    • 著者名/発表者名
      早川鉄平
    • 学会等名
      デザインガイア2009
    • 発表場所
      高知市文化プラザ
    • 年月日
      2009-12-04
  • [学会発表] テスト圧縮指向ドントケア抽出法2009

    • 著者名/発表者名
      若園大洋
    • 学会等名
      デザインガイア2009
    • 発表場所
      高知市文化プラザ
    • 年月日
      2009-12-04
  • [学会発表] スキャンベース攻撃とその防御法に対する定量的なセキュリティ評価2009

    • 著者名/発表者名
      伊藤侑磨
    • 学会等名
      デザインガイア2009
    • 発表場所
      高知市文化プラザ
    • 年月日
      2009-12-03
  • [学会発表] 順序回路のソフトエラー耐性評価における近似手法の計算精度および実行時間の評価2009

    • 著者名/発表者名
      赤峰悠介
    • 学会等名
      デザインガイア2009
    • 発表場所
      高知市文化プラザ
    • 年月日
      2009-12-03
  • [学会発表] マルコフモデルを用いた順序回路のソフトエラー耐性評価手法2009

    • 著者名/発表者名
      赤峰悠介
    • 学会等名
      DAシンポジウム2009
    • 発表場所
      ホテルアローレ
    • 年月日
      2009-08-26
  • [学会発表] タイミング冗長故障判定を考慮した遷移故障テスト生成法2009

    • 著者名/発表者名
      小河宏志
    • 学会等名
      第61回FTC研究会
    • 発表場所
      奥伊勢フォレストピア
    • 年月日
      2009-07-17
  • [学会発表] ケアビット分布制御のためのドントケア抽出技術2009

    • 著者名/発表者名
      若園大洋
    • 学会等名
      第61回FTC研究会
    • 発表場所
      奥伊勢フォレストピア
    • 年月日
      2009-07-17
  • [学会発表] テスト不可能故障の検出数の削減のためのスキャンテスト生成法2009

    • 著者名/発表者名
      小河宏志
    • 学会等名
      VLSI設計技術研究会
    • 発表場所
      北九州国際会議場
    • 年月日
      2009-05-20
  • [学会発表] SER評価のための論理回路におけるパルスの伝搬解析2009

    • 著者名/発表者名
      原田翔次
    • 学会等名
      ディペンダプルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス
    • 年月日
      2009-04-21
  • [学会発表] 算術演算器を含む回路に対する高速なソフトエラー率評価手法2009

    • 著者名/発表者名
      平田元春
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス
    • 年月日
      2009-04-21
  • [学会発表] セルベース設計に適したSER評価の為のパルス発生確率解析手法2009

    • 著者名/発表者名
      小津和大昌
    • 学会等名
      ディペンダブルコンピューティング研究会
    • 発表場所
      首都大学東京秋葉原サテライトキャンパス
    • 年月日
      2009-04-21

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公開日: 2011-06-16   更新日: 2016-04-21  

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