研究課題
若手研究(B)
高分子材料が有する階層構造やその形成過程を幅広い空間スケールにわたって同一条件で解析するために、小角および広角X線散乱法を組み合わせた手法が有効である。また、近年のデバイス微小化に伴い、局所的且つ微小領域の構造や物性を知ることが極めて重要である。そのため、これらの要望に有効な手法として、高分子の薄膜の構造解析の手段として、微小角入射法によるSAXS/WAXS同時測定法の確立と、薄膜の階層構造解析を行なった。
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すべて 雑誌論文 (1件) (うち査読あり 1件) 学会発表 (11件) 備考 (1件)
Macromolecules vol.42,No.24
ページ: 9561-9567
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