原子間力顕微鏡によるTiO2(110)表面の触媒反応場の制御と評価

2009 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 20760024
• 研究種目: 若手研究(B)
• 配分区分: 補助金
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 大阪大学
• 研究代表者: 杉本 宜昭 大阪大学, 工学研究科, 特任講師 (00432518)
• 研究期間 (年度): 2008 – 2009
• キーワード: 走査型プローブ顕微鏡 / 二酸化チタン

研究概要

AFMを用いた新しい計測法である、化学結合力/トンネル電流の同時測定法、局所表面電位の精密測定法、化学結合力空間マッピング法及びそれを利用した元素同定法を開発した。それに加えて、室温原子操作に現れる確率的な原子移動の計測による機構の解明を行い、さらに、交換型垂直原子操作と名づけた新しい原子操作法を見出した。そして、TiO2表面の画像化とフォーススペクトロスコピー測定によって、従来とは異なるAFMの画像化機構であることを提唱した。

研究成果

• [雑誌論文] NC-AFM imaging of the TiO2 (110)-(1x1) surface at low temperature (2010)
  • 著者名/発表者名: A. Yurtsever, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 雑誌名: Nanotechnology 21 ページ: 1657021-7
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous atomic-force and scanning-tunneling microscopy study of the Ge(111)-c(2x8) surface (2010)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, Y. Sugimoto, K. Morita, M. Abe, S. Morita
  • 雑誌名: Journal of Vacuum Science & Technology B 28(in press)
  • 査読あり
• [雑誌論文] New insights on atomic-resolution frequency-modulation Kelvin-probe forcemicroscopy imaging of semiconductors (2009)
  • 著者名/発表者名: S. Sadewasser, P. Jelinek, C.K. Fang, O. Custance, Y. Yamada, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 雑誌名: Physical Review Letters 103 ページ: 2661031-4
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous measurement of force and tunneling current at room temperature (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, Y. Sugimoto, K. Morita, M. Abe, S. Morita
  • 雑誌名: Applied Physics Letters 94 ページ: 1731171-3
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous Atomic Imaging of Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy Using Metal Coated Cantilevers (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, A. Hirai, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 雑誌名: Materials Transactions 50 ページ: 940-942
  • 査読あり
• [雑誌論文] Mapping and imaging for rapid atom discrimination: A study of frequency modulation atomic force microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, T. Namikawa, M. Abe, S. Morita
  • 雑誌名: Applied Physics Letters 94 ページ: 0231081-3
  • 査読あり
• [雑誌論文] Statistics of lateral atom manipulation by atomic force microscopy at room temperature (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, K. Miki, M. Abe, S. Morita
  • 雑誌名: Physical Review B 78 ページ: 2053051-5
  • 査読あり
• [雑誌論文] High-spatial-resolution topographic imaging and dimmer distance analysis of Si(100)-(2x1) using non-contact atomic force microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, T. Namikawa, M. Hiragaki, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 雑誌名: Japanese Journal of Applied Physics 47 ページ: 6085-6087
  • 査読あり
• [雑誌論文] Complex patterning by vertical interchange atom manipulation using atomic force microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, P. Pou, O. Custance, P. Jelinek, M. Abe, R. Perez, S. Morita
  • 雑誌名: Science 322 ページ: 413-417
  • 査読あり
• [雑誌論文] Vertical and lateral force mapping on the Si(111)-(7x7) surface by dynamic force microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, T. Namikawa, K. Miki, M. Abe, S. Morita
  • 雑誌名: Physical Review B 77 ページ: 1954241-9
  • 査読あり
• [学会発表] AFMとSTMの同時測定における画像化の評価 (2010)
  • 著者名/発表者名: 澤田大輔、瀧本遼介、平山直樹、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: 日本金属学会2010年春期(第146回)大会
  • 発表場所: 筑波大学, 茨城県
  • 年月日: 2010-03-29
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡を用いた高さ一定モードによる水平原子操作 (2010)
  • 著者名/発表者名: 田中秀樹、福本将輝、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: 日本金属学会2010年春期(第146回)大会
  • 発表場所: 筑波大学, 茨城県
  • 年月日: 2010-03-29
• [学会発表] Force and tunneling spectroscopy using cantilever based AFM/STM (2010)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 日本物理学会第65回年次大会
  • 発表場所: 岡山大学, 岡山県
  • 年月日: 2010-03-20
• [学会発表] "Site-specific force spectroscopy on TiO2 (110) surface at low-temperature" 2nd Global COE International Symposium-Electronic Devices Innovation - EDIS2009- (2010)
  • 著者名/発表者名: A. Pratama, A. Yurtsever, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: Workshop on Applications of Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Hotel Hankyu Expo-park, Suita, Osaka, Japan
  • 年月日: 2010-01-14
• [学会発表] "Force and Tunneling Current Measurements on the Semiconductor Surface" 2nd Global COE International Symposium-Electronic Devices Innovation - EDIS2009- (2010)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, Y. Sugimoto, K. Morita, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: Workshop on Applications of Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Hotel Hankyu Expo-park, Suita, Osaka, Japan
  • 年月日: 2010-01-14
• [学会発表] NC-AFM/STM measurements on the Si(111)-(7×7) surface and the Ge(111)-c(2×8) surface (2009)
  • 著者名/発表者名: R. Takimoto, D. Sawada, Y. Sugimoto, K. Morita, M. Abe, S. Morita
  • 発表場所: Atagawa, Shizuoka, Japan
  • 年月日: 20091210-20091212
• [学会発表] Studying different type of image contrast on TiO2 (110) surface by using nc-AFM measurement (2009)
  • 著者名/発表者名: H. Tanaka, A. Pratama, A. Yurtsever, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 発表場所: Atagawa, Shizuoka, Japan
  • 年月日: 20091210-20091212
• [学会発表] Toward Atom-by-Atom Assembly of Composite Nanostructures Based on AFM (2009)
  • 著者名/発表者名: S. Morita, Y. Sugimoto, P. Pou, P. Jelinek, R. Perez, O. Custance, M. Abe
  • 学会等名: 7th International Symposium on Atomic Level Characterizations for New Materials and Devices '09
  • 発表場所: The Westin Maui Resort & Spa, Maui, Hawaii, USA
  • 年月日: 2009-12-06
• [学会発表] Understanding the Mechanism of Different Contrast Modes on TiO2(110)-(1x1) Surface using nc-AFM at Low Temperature - a Force Spectroscopic Measurement (2009)
  • 著者名/発表者名: A. Pratama, Y. Ayhan, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita, P. Jelinek, C. Gonzalez, R. Perez
  • 学会等名: 2009 MRS Fall Meeting-
  • 発表場所: The Hynes Convention Center, Boston, USA
  • 年月日: 2009-12-02
• [学会発表] AFM/STM Simultaneous Measurement on TiO2(110) Surface (2009)
  • 著者名/発表者名: H. Tanaka, A. Yurtsever, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 2009 MRS Fall Meeting-
  • 発表場所: The Hynes Convention Center, Boston, USA
  • 年月日: 2009-12-02
• [学会発表] Force and Tunneling Current Measurements on the Semiconductor Surface (2009)
  • 著者名/発表者名: K. Morita, D. Sawada, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 2009 MRS Fall Meeting-
  • 発表場所: he Hynes Convention Center, Boston, USA
  • 年月日: 2009-12-02
• [学会発表] Simultaneous Measurement of Force and Tunneling Current with Atomic Force Microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: M. Abe, D. Sawada, K. Morita, Y. Sugimoto, S. Morita
  • 学会等名: 2009 MRS Fall Meeting-
  • 発表場所: The Hynes Convention Center, Boston, USA
  • 年月日: 2009-12-02
• [学会発表] Atom-by-Atom Nanostructuring of Composite Nanomaterials Based on AFM (2009)
  • 著者名/発表者名: S. Morita, Y. Sugimoto, O. Custance, M. Abe, P. Pou, P. Jelinek, R. Perez
  • 学会等名: The 4th International Symposium on Atomic Technologies (ISAT-4)
  • 発表場所: Seaside Hotel MAIKO VILLA KOBE, Hyogo, Japan
  • 年月日: 2009-11-18
• [学会発表] NC-AFM/STM measurements on the Si(111)-(7x7) surface and the Ge(111)-c(2x8) surface (2009)
  • 著者名/発表者名: R. Takimoto, D. Sawada, Y. Sugimoto, K. Morita, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: The 4th International Symposium on Atomic Technologies (ISAT-4)
  • 発表場所: Seaside Hotel MAIKO VILLA KOBE, Hyogo, Japan
  • 年月日: 2009-11-18
• [学会発表] AFMを用いた化学結合力測定に基づいた原子識別 (2009)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 平成21年度ナノ分光部会第1回シンポジウム
  • 発表場所: 理化学研究所, 和光
  • 年月日: 2009-11-06
• [学会発表] 超高真空原子間力顕微鏡を用いた原子分子技術 (2009)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 平成21年度第2回関西電気化学研究会
  • 発表場所: 大阪大学, 吹田
  • 年月日: 2009-09-26
• [学会発表] 超高真空SPMの半導体への応用 (2009)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 第47回表面科学基礎講座
  • 発表場所: 東京大学, 文京区
  • 年月日: 2009-09-08
• [学会発表] Atom manipulation by Atomic force microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, O. Custance, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 5th Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium
  • 発表場所: Osaka university, Suita, Japan
  • 年月日: 2009-09-01
• [学会発表] Probing the interaction of potassium (K) atoms on TiO2(110) surface by using non-contact atomic force microscopy (nc-AFM) at low temperature (2009)
  • 著者名/発表者名: A. Pratama, A. Yurtsever, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 5th Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium
  • 発表場所: Osaka university, Suita, Japan
  • 年月日: 2009-09-01
• [学会発表] Constant height AFM/STM imaging on TiO2(110) surface (2009)
  • 著者名/発表者名: H. TANAKA, A. Yurtsever, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 5th Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium
  • 発表場所: Osaka university, Suita, Japan
  • 年月日: 2009-09-01
• [学会発表] NC-AFM/STM Measurements on the Si(111)-(7x7) Surface (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, Y. Sugimoto, K. Morita, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 5th Handai Nanoscience and Nanotechnology International Symposium
  • 発表場所: Osaka university, Suita, Japan
  • 年月日: 2009-09-01
• [学会発表] STMによる交換型原子操作 (2009)
  • 著者名/発表者名: 北野晋平、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: アトミック/ポリスケールテクノロジー連携研究会
  • 発表場所: 東京理科大学・長万部キャンパス, 北海道
  • 年月日: 2009-08-26
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡と走査型トンネル顕微鏡の同時測定 (2009)
  • 著者名/発表者名: 瀧本遼介、澤田大輔、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: アトミック/ポリスケールテクノロジー連携研究会
  • 発表場所: 東京理科大学・長万部キャンパス, 北海道
  • 年月日: 2009-08-26
• [学会発表] AFM/STM同時測定によるTiO2(110)表面の観察 (2009)
  • 著者名/発表者名: 田中秀樹、Ayhan Yurtsever、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: アトミック/ポリスケールテクノロジー連携研究会
  • 発表場所: 東京理科大学・長万部キャンパス, 北海道
  • 年月日: 2009-08-26
• [学会発表] GaAs(110)劈開表面のAFM/STM同時測定 (2009)
  • 著者名/発表者名: 竹田真琴、中嶋祐貴、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: アトミック/ポリスケールテクノロジー連携研究会
  • 発表場所: 東京理科大学・長万部キャンパス, 北海道
  • 年月日: 2009-08-26
• [学会発表] Fabry-Perot干渉計を用いたAFMの検出感度向上に関する研究 (2009)
  • 著者名/発表者名: 佐藤或思、伊奈健一、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: アトミック/ポリスケールテクノロジー連携研究会
  • 発表場所: 東京理科大学・長万部キャンパス, 北海道
  • 年月日: 2009-08-26
• [学会発表] 水晶振動子を用いたAFM/STMのフォースセンサーの開発 (2009)
  • 著者名/発表者名: 笹川裕紀、森田健一、杉本宜昭、阿部真之、森田清三
  • 学会等名: アトミック/ポリスケールテクノロジー連携研究会
  • 発表場所: 東京理科大学・長万部キャンパス, 北海道
  • 年月日: 2009-08-26
• [学会発表] Simultaneous measurement of force and tunneling current (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, Y. Sugimoto, K. Morita, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 12th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy and Casimir 2009 Workshop
  • 発表場所: Yale University, New Haven, CT, USA
  • 年月日: 2009-08-10
• [学会発表] Site-specific force spectroscopy on TiO2(110) surface at low-temperature (2009)
  • 著者名/発表者名: A. Yurtsever, A. Pratama, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 12th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy and Casimir 2009 Workshop
  • 発表場所: Yale University, New Haven, CT, USA
  • 年月日: 2009-08-10
• [学会発表] Force and Tunneling Current Measurements on the Semiconductor Surface (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, Y. Sugimoto, K. Morita, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 12th International Conference on Noncontact Atomic Force Microscopy and Casimir 2009 Workshop
  • 発表場所: Yale University, New Haven, CT, USA
  • 年月日: 2009-08-10
• [学会発表] Toward Atom-by-Atom Assembly of Complex Nanostructures Based on Atomic Force Microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: S. Morita, Y. Sugimoto, O. Custance, M. Abe, P. Pou, P. Jelinek, R. Perez
  • 学会等名: An local meeting of Czech nanosociety
  • 発表場所: Institute of Physics, Academy of Sciences of the Czech Republic, Prague, Czech Republic
  • 年月日: 2009-07-16
• [学会発表] AFMを用いた室温原子操作の統計的実験 (2009)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭, 三木浩太郎, 阿部真之, 森田清三
  • 学会等名: 応用物理学会春季講演大会
  • 発表場所: 筑波大学, 茨城県
  • 年月日: 2009-03-31
• [学会発表] 原子間力顕微鏡を用いた単原子の元素識別法と室温での原子操作法の開発 (2009)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 日本物理学会春季講演大会
  • 発表場所: 立教大学, 東京都
  • 年月日: 2009-03-28
• [学会発表] 原子間力顕微鏡を用いたフォースマッピングと原子操作 (2009)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭
  • 学会等名: 日本顕微鏡学会関東支部講演会
  • 発表場所: 工学院大学, 東京都
  • 年月日: 2009-03-07
• [学会発表] Development of Atomic Force Microscopy Using Quartz Tuning Fork Operated in Ultra High Vacuum (2009)
  • 著者名/発表者名: T. Terado, Y. Sasagawa, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3)3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Optical Interferometer for Detection and Excitation of Cantilever Motion: A Study of Atomic Force Microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: A. Sato, K. Ina, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3)3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Sensitivity improvement of interferometer for NC-AFM (2009)
  • 著者名/発表者名: K. Ina, A Sato, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3)3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Investigation of excitation method for quartz tuning fork atomic force microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Sasagawa, H. Hasegawa, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3)3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Observation of the metal oxide surface by scanning probe microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: H. Tanaka, A. Hirai, I. Yi, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3)3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] High Resolution Imaging of TiO2 (110)-(1x1) Using Non-Contact AFM at Low Temperature (2009)
  • 著者名/発表者名: A. Pratama, A. Yurtsever, Y. Sugimoto, S. Morita
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3)3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] High-resolution imaging of CaF2 /Si (111) surface using atomic resolution NC-AFM (2009)
  • 著者名/発表者名: M. Takeda, M. Nagayasu, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3)3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Statistics of lateral atom manipulation by atomic force microscopy at room temperature (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Nakajima, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3)3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Investigation into small diameter metal tip for force sensor (2009)
  • 著者名/発表者名: H. Hasegawa, Y. Sasagawa, Y. Sugimoto, M Abe, S. Morita
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3)3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Deflection amplifier for tuning fork operated in ultra-high vacuum (2009)
  • 著者名/発表者名: S. Somayeh, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 3rd International Symposium on Atomic Technology (ISAT-3)3rd Polyscale Technology Workshop (PTW-3)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2009-03-05
• [学会発表] Statistics of Lateral Atom Manipulation by Atomic Force Microscopy at Room Temperature (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, K. Miki, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: The 16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
  • 発表場所: Atagawa, Japan
  • 年月日: 20081211-20081213
• [学会発表] NC-AFM/STM Study on the Semiconductor Surface (2008)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: The 16th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy
  • 発表場所: Atagawa, Japan
  • 年月日: 20081211-20081213
• [学会発表] Vertical and lateral force mapping by non-contact atomic force microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, T. Namikawa, K. Miki, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: International Symposium on Surface Science and Nanotechnology International Conference Center
  • 発表場所: Waseda University, Tokyo, Japan
  • 年月日: 20081109-20081113
• [学会発表] Toward Atom-by-Atom Assembly of Composite Nanostructures Based on Atomic Force Microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Morita, Y. Sugimoto, O. Custance, M. Abe, P. Pou, P. Jelinek, R. Perez
  • 学会等名: 21st International Microprocesses and Nanotechnology Conference (MNC 2008)
  • 発表場所: Fukuoka, Japan
  • 年月日: 20081027-20081030
• [学会発表] Vertical and lateral force mapping on the Si(111) -(7x7) surface by dynamic force microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, T. Namikawa, K. Miki, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Madrid, Spain
  • 年月日: 20080915-20080919
• [学会発表] Distinct short-range electrostatic interaction on Si and substitutional Pb atoms at the Si(111) -(7x7) surface (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Sadewasser, O. Custance, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Madrid, Spain
  • 年月日: 20080915-20080919
• [学会発表] Unveiling the atomic processes during the manipulation of single atoms at semiconductor surfaces using the FM-AFM in the repulsive regime (2008)
  • 著者名/発表者名: P. Pou, Y. Sugimoto, O. Custance, P. Jelinek, M. Abe, S. Morita, R. Perez
  • 学会等名: 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Madrid, Spain
  • 年月日: 20080915-20080919
• [学会発表] Force spectroscopy using cantilever higher flexural modes (2008)
  • 著者名/発表者名: O. Custance, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Madrid, Spain
  • 年月日: 20080915-20080919
• [学会発表] Imaging and Mapping for discriminating atom species using Non-contact Atomic Force Microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: M. Abe, Y. Sugimoto, K. Miki, T. Namikawa, S. Morita
  • 学会等名: 11th International Conference on Non-contact Atomic Force Microscopy
  • 発表場所: Madrid, Spain
  • 年月日: 20080915-20080919
• [学会発表] Atom-by-Atom Chemical Identification and Following Manipulation on Semiconductor Surfaces Toward Nanostructuring at Room Temperature (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Morita, Y. Sugimoto, O. Custance, M. Abe
  • 学会等名: the 14th International Conference on Solid Films and Surfaces (ICSFS-14)
  • 発表場所: Trinity College Dublin, Ireland
  • 年月日: 20080629-20080704
• [学会発表] 非接触原子間力顕微鏡を用いたフォースマッピング (2008)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭, 並川峻, 三木浩太郎, 阿部真之, 森田清三
  • 学会等名: 表面科学学術講演会
  • 発表場所: 早稲田大学, 東京都
  • 年月日: 2008-11-13
• [学会発表] Atomic Tool for Nanofabrication Based on Atomic Force Microscopy (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Morita, Y. Sugimoto, O. Custance, M. Abe, P. Pou, P. Jelinek, R. Perez
  • 学会等名: 55th AVS International Symposium in Boston
  • 発表場所: MA, USA
  • 年月日: 2008-10-21
• [学会発表] フォースマッピングによるFM-AFM凹凸像の考察 (2008)
  • 著者名/発表者名: 杉本宜昭, 並川峻, 三木浩太郎, 阿部真之, 森田清三
  • 学会等名: 応用物理学会秋季講演大会
  • 発表場所: 中部大学, 愛知県
  • 年月日: 2008-09-02
• [学会発表] Imaging of the Si clusters on the Si(111)-(7x7) surface by using NC-AFM (2008)
  • 著者名/発表者名: S. Iwasaki, A. Hirai, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: International Journal of Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
  • 発表場所: Nagoya, Japan
  • 年月日: 2008-06-29
• [学会発表] NC-AFM study of phosphorous/Si(001)2x1 surface (2008)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, T. Namikawa, M. Hiragaki, Y. Sugimoto, M. Abe, S. Morita
  • 学会等名: International Journal of Advanced Microscopy and Theoretical Calculations
  • 発表場所: Nagoya, Japan
  • 年月日: 2008-06-29
• [図書] Noncontact Atomic Force Microscopy Volume 2
  • 著者名/発表者名: S. Morita, F.J. Giessibl, R. Wiesendanger (Eds. )
  • 出版者: Springer-Verlag
• [備考]
  • URL: http://www.wakate.frc.eng.osaka-u.ac.jp/sugimoto/