本研究はメタルレジストと極端紫外線(EUV)や電子線(EB)といった電離放射線との反応性および、メタルレジストのアグリゲーションの現象を解明する点で、学術的に高い意義がある。また、本研究のダイレクトリソグラフィの実現を指向した金属極細線加工材料・プロセスの創出で得られた研究成果は、最先端の半導体リソグラフィでも現在のところ開発の糸口さえ掴めていない10 nm未満の加工を1nm以下の精度で行うことができる新しい微細加工材料の開発につながり、将来のナノテクノロジーあるいはナノサイエンスの産業応用の実現に繋がるダイレクトリソグラフィのような新規微細加工技術として期待される。
|