本研究はシースおよびプレシースにおける電界構造の実験的計測が可能となる半導体レーザーを光源としたプラズマ中の高感度電界計測法の開発を行うことが目的である。 水素原子を対象とする二段励起レーザー誘起蛍光法では、中間準位であるn=3状態で微細構造準位間におけるポピュレーションの移動、原子速度分布の熱化が生じ十分な波長分解能のスペクトルは得られないことが分かった。キャビティリングダウン吸収分光法(CRDS)に飽和度の評価を導入したSCAR法では、低密度の水素プラズマに対してもラムディップによる高い波長分解能のスペクトルが得られ、シース電界中でラムディップが移動、分裂していることが確認できた。
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