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試料表面で散乱した光を２次元色彩計で測定し、その色分布から表面粗さを推定する方法を開発した。色彩計で測定した測色値をCIE1931 xy色度図にマッピングし、その分布が表面凹凸の高さや周期によって異なることを利用して粗さを推定した。測定感度（粗さに対する色分布拡がり幅の変化量）と測定のばらつきに影響を与える因子を明らかにし、これらを最適化した測定系を構築した。その結果、粗さパラメータの一種である算術平均高さSaが0.7μm～11μmの試料に対して測定系を最適化することで、測定領域の中心付近において、Saを0.69μmの精度で推定できることを明らかにした。
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