| 研究課題/領域番号 |
20K11823
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| 研究機関 | 福岡大学 |
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研究代表者 |
請園 智玲 福岡大学, 工学部, 助教 (50610060)
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| 研究期間 (年度) |
2020-04-01 – 2025-03-31
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| キーワード | ノイズ注入 / 耐タンパ性 / 暗号 / AES / サイドチャネル攻撃 |
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| 研究実績の概要 |
チップにノイズを故意に注入し，耐タンパ性を向上させる研究の試みはうまく機能する設計条件を発見することに成功し，回路構成やノイズの種類を変えて様々な研究を実施した．これらのバリエーションで今年度までで計１１報の国際会議論文を執筆し，発表した．また，国内の研究発表も7回行った．
ディジタル回路の様々な実装形態について広く研究をし，特にFPGA固有の計算リソースを活用したノイズ注入技術で高い評価を得ている．この研究成果に対して，国際会議で2つの論文賞を受賞した．
本研究の着眼点である消費電力の波形に残るチップ内部の情報をノイズでマスクする技法は，ノイズのランダム性や周期性によって耐タンパ性が大きく変わることが確認されており，例えば，単純なクロック信号をノイズとして活用した場合は耐タンパ性の向上は確認できるものの十分ではなく，それらと乱数と組み合わせたノイズを生成することで更なる耐タンパ性の向上が確認できている．
ノイズ注入技術による耐タンパ性設計は実装面積で低コストであることを利点とすることから，高精度の乱数生成器を回路として導入することは，その利点を損なうものであるため，本研究ではノイズ注入技術に加えて，低コストの乱数生成器を併せて提案している．
その乱数生成器は特定の暗号回路に依存するものであるが，例えばAESの実装においては非線形演算を担当するS-boxを本来の暗号処理と乱数生成処理で共用することで，乱数生成器の実装面積コストを極限に抑えて，耐タンパ性のための乱数供給を実現することに成功している．
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| 現在までの達成度 (区分) |
現在までの達成度 (区分)
2: おおむね順調に進展している
理由
予定されていた研究はほぼ完了しデータ出しや検証も完了しているが，研究成果の発表／出版が未完である．
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| 今後の研究の推進方策 |
現在，データをまとめて論文を執筆中であり，令和6年度には研究成果の発表を完了させる．
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