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2020 年度 実施状況報告書

走査透過型電子顕微鏡による局所領域における化学結合電子の可視化手法の開発

研究課題

研究課題/領域番号 20K15014
研究機関東京大学

研究代表者

関 岳人  東京大学, 大学院工学系研究科(工学部), 助教 (90848558)

研究期間 (年度) 2020-04-01 – 2023-03-31
キーワード走査透過型電子顕微鏡 / STEM / 微分位相コントラスト / DPC
研究実績の概要

本研究では走査透過型電子顕微鏡(STEM)の一手法である微分位相コントラスト(DPC)を用いて原子スケールの電場を可視化し、局所領域の化学結合情報を抽出することを目的としている。電子が試料中を透過する際には複数回散乱が起きるために、原子分解能で取得したDPC STEM像から原子スケールの電場を直接的に定量することは難しい。そこで本研究では多重散乱の様子をマルチスライスSTEM像計算によってシミュレーションすることで、実験で得られたDPC STEM像から原子スケールの電場を精度よく定量する手法の開発に取り組んでいる。本年度は、シミュレーションによって得られたノイズの存在しない理想的なDPC STEM像をテストデータとして、電場定量アルゴリズムの開発に取り組んだ。多重散乱を仮定せずにテストデータから電場を定量し、マルチスライスSTEM像計算を実行し、テストデータとシミュレーション結果を比較することによって、電場定量の精密化を繰り返すことによって、多重散乱存在化での高精度電場定量アルゴリズムを開発した。このアルゴリズムは,試料厚みがおおよそ10 nm程度までは有効であることが確認された。また、実際の実験データにはノイズがのるため、ノイズがある場合に対する取り扱い方法を考案しプログラムに実装し、実際の実験データに対して適用する準備を整えた。また、ピクセル型検出器や分割型検出器など多様な検出器によるDPC STEM像に対する適用可能性について検討を進めた。

現在までの達成度 (区分)
現在までの達成度 (区分)

2: おおむね順調に進展している

理由

本研究は以下の手順で進める計画としている。1.反復アルゴリズムによる原子電場推定プログラムを作成する。2.DPCの計算像をテストデータとして、アルゴリズムの有効性を検討する。3.電子状態が既知の試料を用いて、化学結合の可視化の実験的有効性を検討する。4.界面などの局所構造において、化学結合の可視化を試みる。以上のうち1,2について本年度に達成することができたため、おおむね順調に進展しているものと判断できる。

今後の研究の推進方策

当初計画通り、開発したアルゴリズムを実験データへと適用する。実際の実験データにはノイズが存在するため、アルゴリズムを適宜改良していく。また電場定量結果を第一原理計算などと比較することによって化学結合の可視化可能性について検討していく。

次年度使用額が生じた理由

当初計画よりも安価に物品が購入できたため、次年度使用額が生じた。

  • 研究成果

    (23件)

すべて 2021 2020 その他

すべて 国際共同研究 (2件) 雑誌論文 (6件) (うち国際共著 2件、 査読あり 5件、 オープンアクセス 2件) 学会発表 (15件) (うち国際学会 4件、 招待講演 2件)

  • [国際共同研究] マンチェスター大学(英国)

    • 国名
      英国
    • 外国機関名
      マンチェスター大学
  • [国際共同研究] モナッシュ大学(オーストラリア)

    • 国名
      オーストラリア
    • 外国機関名
      モナッシュ大学
  • [雑誌論文] Ultra-high contrast STEM imaging for segmented/pixelated detectors by maximizing the signal-to-noise ratio2021

    • 著者名/発表者名
      K. Ooe, T. Seki, Y. Ikuhara, N. Shibata
    • 雑誌名

      Ultramicroscopy

      巻: 220 ページ: 113133

    • DOI

      10.1016/j.ultramic.2020.113133

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Nanometre imaging of Fe3GeTe2 ferromagnetic domain walls2021

    • 著者名/発表者名
      D.G. Hopkinson, T. Seki, N. Clark, R. Chen, Y. Zou, A. Kimura, R.V. Gorbachev, T. Thomson, N. Shibata, S.J. Haigh
    • 雑誌名

      Nanotechnology

      巻: 32 ページ: 205703

    • DOI

      10.1088/1361-6528/abe32b

    • 査読あり / 国際共著
  • [雑誌論文] Toward quantitative electromagnetic field imaging by differential-phase-contrast scanning transmission electron microscopy2021

    • 著者名/発表者名
      T. Seki, Y. Ikuhara, N. Shibata
    • 雑誌名

      Microscopy

      巻: 70 ページ: 148-160

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfaa065

    • 査読あり / オープンアクセス
  • [雑誌論文] Magnetic-structure imaging in polycrystalline materials by specimen-tilt series averaged DPC STEM2020

    • 著者名/発表者名
      Y.O. Murakami, T. Seki, A. Kinoshita, T. Shoji, Y. Ikuhara, N. Shibata
    • 雑誌名

      Microscopy

      巻: 69 ページ: 312-320

    • DOI

      10.1093/jmicro/dfaa029

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Quantitative electric field mapping of a p-n junction by DPC STEM2020

    • 著者名/発表者名
      S. Toyama, T. Seki, S. Anada, H. Sasaki, K. Yamamoto, Y. Ikuhara, N. Shibata
    • 雑誌名

      Ultramicroscopy

      巻: 216 ページ: 113033

    • DOI

      10.1016/j.ultramic.2020.113033

    • 査読あり
  • [雑誌論文] Phase-Contrast-Based Structure Retrieval Methods in Atomic Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy. When They Hold and When They Don't2020

    • 著者名/発表者名
      S. Findlay, L. Allen, H. Brown, Z. Chen, J. Ciston, Y. Ikuhara, R. Ishikawa, C. Ophus, G. Sテ。nchez-Santolino, T. Seki, N. Shibata, M. Weyland
    • 雑誌名

      Microscopy and Microanalysis

      巻: 26 ページ: 442-443

    • DOI

      10.1017/S1431927620014683

    • オープンアクセス / 国際共著
  • [学会発表] Low-dose real-time observation of beam-sensitive materials via novel ultra-efficient STEM imaging technique using a segmented detector2020

    • 著者名/発表者名
      K. Ooe, T. Seki, Y. Ikuhara, N. Shibata
    • 学会等名
      Virtual Early Career European Microscopy Congress 2020
    • 国際学会
  • [学会発表] 高速分割型STEM検出器を用いた超高感度実時間結像法の開発2020

    • 著者名/発表者名
      大江 耕介, 関 岳人, 河野 祐二, 幾原 雄一, 柴田直哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会第63回シンポジウム
  • [学会発表] 超高感度原子イメージング手法の開発と電子線敏感材料研究への応用2020

    • 著者名/発表者名
      大江 耕介, 関 岳人, 幾原 雄一, 柴田直哉
    • 学会等名
      新学術領域研究「機能コアの材料科学」第2回若手コラボツアー
  • [学会発表] 超高感度STEM実時間結像法の開発による電子線敏感材料の低ドーズ観察2020

    • 著者名/発表者名
      大江 耕介, 関 岳人, 河野 祐二, 幾原 雄一, 柴田直哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第76回学術講演会
  • [学会発表] Quantitative electric field imaging in GaN-based heterostructures by DPC STEM2020

    • 著者名/発表者名
      S. Toyama, T. Seki, Y. Kanitani, Y. Kudo, S. Tomiya, Y. Ikuhara, N. Shibata
    • 学会等名
      Virtual Early Career European Microscopy Congress 2020
    • 国際学会
  • [学会発表] DPC STEM を用いたGaN 系半導体ヘテロ界面の電場直接観察2020

    • 著者名/発表者名
      遠山 慧子, 関 岳人, 蟹谷 裕也, 工藤 喜弘, 冨谷 茂隆, 幾原 雄一, 柴田直哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第76回学術講演会
  • [学会発表] DPC STEMを用いたGaN系半導体ヘテロ接合界面における電場定量観察法の開発2020

    • 著者名/発表者名
      遠山 慧子, 関 岳人, 蟹谷 裕也, 工藤 喜弘, 冨谷 茂隆, 幾原 雄一, 柴田直哉
    • 学会等名
      公益社団法人日本セラミックス協会 第33回秋季シンポジウム
  • [学会発表] Magnetic Field Imaging of Polycrystalline Magnets by Differential Phase Contrast STEM2020

    • 著者名/発表者名
      Y.O. Murakami, T. Seki, A. Kinoshita, T. Shoji, Y. Ikuhara, N. Shibata
    • 学会等名
      Virtual Early Career European Microscopy Congress 2020
    • 国際学会
  • [学会発表] STEMによるNd-Fe-B系熱間加工磁石の磁区構造・微細組織の直接観察2020

    • 著者名/発表者名
      村上 善樹, 関 岳人, 木下, 昭人, 庄司 哲也, 幾原 雄一, 柴田 直哉
    • 学会等名
      日本金属学会 第167回講演大会
  • [学会発表] 多結晶体中の磁区構造観察を実現する傾斜平均化DPC-STEM法2020

    • 著者名/発表者名
      村上 善樹, 関 岳人, 木下, 昭人, 庄司 哲也, 幾原 雄一, 柴田 直哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第63回シンポジウム
  • [学会発表] STEMによるNd-Fe-B磁石の磁区構造と微細構造の観察2020

    • 著者名/発表者名
      村上 善樹, 関 岳人, 木下, 昭人, 庄司 哲也, 幾原 雄一, 柴田 直哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第76回学術講演会
  • [学会発表] STEM 位相イメージングの理論と応用2020

    • 著者名/発表者名
      関 岳人, 幾原 雄一, 柴田直哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第63回シンポジウム
    • 招待講演
  • [学会発表] 明視野STEM法の線形結像理論2020

    • 著者名/発表者名
      関 岳人, 幾原 雄一, 柴田直哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第76回学術講演会
  • [学会発表] Phase-Contrast-Based Structure Retrieval Methods in Atomic Resolution Scanning Transmission Electron Microscopy. When They Hold and When They Don't2020

    • 著者名/発表者名
      S. Findlay, L. Allen, H. Brown, Z. Chen, J. Ciston, Y. Ikuhara, R. Ishikawa, C. Ophus, G. Sanchez-Santolino, T. Seki, N. Shibata, M. Weyland
    • 学会等名
      Microscopy and Microanalysis 2020 Meeting
    • 国際学会 / 招待講演
  • [学会発表] 原子分解能磁場フリー STEMの開発(2)2020

    • 著者名/発表者名
      河野 祐二, 関 岳人, 中村 明穂, 森下 茂幸, 松元 隆夫, 柴田 直哉
    • 学会等名
      日本顕微鏡学会 第76回学術講演会

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公開日: 2021-12-27  

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