研究課題
走査型イオンコンダクタンス顕微鏡(SICM)は、パッチクランプで利用されるガラスピペットを探針に用いる。SICMは、生細胞表面の形状情報とともに局所的なイオン電流の計測が可能であり、イオンチャネルのマッピングに有効である。本研究では、SICMを蓄電材料の計測用に改造し、充放電流のイオン濃度プロファイルの変化をマッピングを行った。このことで、充放電中に生じるイオン濃度プロファイルを試料表面の形状変化とともに可視化した。
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