研究課題
基盤研究(A)
高分子関連材料の多くはナノメートルからマイクロメートルに渡る広い空間スケールに階層を持つ複雑な3次元不均一構造を持つことが多い。新規高性能材料の開発のためには、この3次元階層構造を正確にキャラクタリゼーションする必要があり、そのための有力な方法として電子線トモグラフィー法がある。本研究では、これまで観察不可能であったメゾスケールの不均一構造を3次元的に可視化・解析することを可能とする新規の電子顕微鏡(加速電圧2ookV)を完成させ、高分子材料において1~2μmの厚みの試料を数~数十nmの分解能で3次元観察できることを示した。本成果は、高分子だけでなく生物・物理など他分野にも大きな波及効果を持つと思われる。
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http://muse.ifoc.kyushu-.ac.jp/JLAB/JINNAILABORATORY/Welcome.html