原子操作による多元素ナノ構造体の機能制御

2011 年度 研究成果報告書

• 研究課題/領域番号: 21246010
• 研究種目: 基盤研究(A)
• 配分区分: 補助金
• 応募区分: 一般
• 研究分野: 薄膜・表面界面物性
• 研究機関: 大阪大学
• 研究代表者: 阿部 真之 大阪大学, 大学院・工学研究科, 准教授 (00362666)
• 研究期間 (年度): 2009 – 2011
• キーワード: 走査プローブ顕微鏡 / 非接触原子間力顕微鏡 / 原子操作 / ナノ構造

研究概要

多元素ナノ構造体の作成・組み替えを行い、局所状態の物性計測を行いながら、その機能を制御する手法を確立した。具体的には、非接触原子間力顕微鏡を用い、フォーススペクトロスコピーやフォースマッピングといった原子識別に利用できる相互作用力の定量測定技術等と局所電子状態測定との同時測定から、原子レベルで、ナノ構造体の構成元素と幾何学構造、局所状態の関係について明らかにできることを示した。

研究成果

• [雑誌論文] Understanding image contrast formation in TiO2 with force spectroscopy (2012)
  • 著者名/発表者名: A. Yurtsever, D. Fernandez-Torre, C. Gonzalez, P. Jelinek, P. Pou, Y. Sugimoto, M. Abe, Ruben Perez, S. Morita
  • 雑誌名: Physical Review B 巻: Vol.85 ページ: 125416-1/-9
  • DOI: DOI:10.1103/PhysRevB.85.125416
  • 査読あり
• [雑誌論文] Kelvin probe force microscopy characterization of TiO2(110)-supported Au clusters (2011)
  • 著者名/発表者名: H. J. Chung, A. Yurtsever, Y. Sugimoto, M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Applied Physics Letters 巻: Vol.99 ページ: 123102-1/-3
  • DOI: DOI:10.1063/1.3641418
  • 査読あり
• [雑誌論文] Alkali-metal adsorption and manipulation on hydroxylated TiO2(110) surface using atomic force microscopy (2011)
  • 著者名/発表者名: A. Yurtsever, Y. Sugimoto, M. Abe, K. Matsunaga, I. Tanaka, and S. Morita
  • 雑誌名: Physical Review B 巻: Vol.84 ページ: 085413-1/-7
  • DOI: DOI:10.1103/PhysRevB.84.085413
  • 査読あり
• [雑誌論文] Small-amplitude dynamic force microscopy using a quartz cantilever with an optical interferometer (2010)
  • 著者名/発表者名: K. Morita, Y. Sugimoto, M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Nanotechnology 巻: Vol.21 ページ: 305704-1/-4
  • DOI: DOI:10.1088/0957-4484/21/30/305704
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous AFM and STM measurements on the Si(111)-(7x7) surface (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, Y. Nakajima, D. Sawada, M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Physical Review B 巻: Vol.81 ページ: 245322-1/-9
  • DOI: DOI:10.1103/PhysRevB.81.245322
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous force and current mapping of the Si(111)-(7x7) surface by dynamic force microscopy (2010)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, I. Yi, M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Applied Physics Letters 巻: Vol.96 ページ: 263114-1/-3
  • DOI: DOI:10.1063/1.3457997
  • 査読あり
• [雑誌論文] NC-AFM imaging of the TiO2(110)-(1x1) surface at low temperature (2010)
  • 著者名/発表者名: A. Yurtsever, Y. Sugimoto, M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Nanotechnology 巻: Vol.21 ページ: 165702-1/-7
  • 査読あり
• [雑誌論文] New insights on atomic-resolution Frequency-Modulation Kelvin Probe Force Microscopy imaging on semiconductors (2009)
  • 著者名/発表者名: S. Sadewasser, P. Jelinek, C.-K. Fang, O. Custance, Y. Yamada, Y. Sugimoto, M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Physical Review Letters 巻: Vol.103 ページ: 266103-1/ 266103-4
  • DOI: DOI:10.1103/PhysRevLett.103.266103
  • 査読あり
• [雑誌論文] Simultaneous measurement of force and tunneling current at room temperature (2009)
  • 著者名/発表者名: D. Sawada, Y. Sugimoto, K. Morita, M. Abe and S. Morita
  • 雑誌名: Applied Physics Letters 巻: Vol.94 ページ: 173117-1/ 173117-3
  • URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3127503
  • 査読あり
• [雑誌論文] Mapping and imaging for rapid atom discrimination : A study of frequency modulation atomic force microscopy (2009)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto, T. Namikawa, M. Abe, and S. Morita
  • 雑誌名: Applied Physics Letters 巻: vol.94 ページ: 023108-1/ 023108-3
  • URL: http://dx.doi.org/10.1063/1.3046736
  • 査読あり
• [学会発表] Simultaneous scanning force/ tunneling microscopy using a quartz cantilever with a tungsten tip (2011)
  • 著者名/発表者名: K. Morita and M. Abe et al.
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy(ICSPM19)
  • 発表場所: Hokkaido, Japan
  • 年月日: 2011-12-20
• [学会発表] Measurement of atom hopping probability and interaction force for atom manipulation on the Si(111)-(7x7) surface (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Sugimoto and M. Abe et al.
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy(ICSPM19)
  • 発表場所: Hokkaido, Japan
  • 年月日: 2011-12-20
• [学会発表] Alkali-metal adsorption and manipulation on a hydroxylated TiO2(110) surface using atomic force microscopy (2011)
  • 著者名/発表者名: A. Yurtsever and M. Abe et al.
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy(ICSPM19)
  • 発表場所: Hokkaido, Japan
  • 年月日: 2011-12-20
• [学会発表] Simultaneous scanning force/ tunneling microscopy using a quartz cantilever with a tungsten tip (2011)
  • 著者名/発表者名: K. Morita and M. Abe et al.
  • 学会等名: 3rd Global COE International Symposium Electronic Devices Innovation(EDIS2011)
  • 発表場所: Osaka, Japan
  • 年月日: 2011-12-16
• [学会発表] Simultaneous scanning force/ tunneling microscopy using a quartz cantilever with a tungsten tip (2011)
  • 著者名/発表者名: K. Morita and M. Abe et al.
  • 学会等名: International Symposium on Surface Science(ISSS-6)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2011-12-14
• [学会発表] Fabrication of Quartz Cantilevers for Small-Amplitude Dynamic Force Microscopy Using an Optical Deflection Sensor (2011)
  • 著者名/発表者名: Y. Miyata and M. Abe et al.
  • 学会等名: International Symposium on Surface Science(ISSS-6)
  • 発表場所: Tokyo, Japan
  • 年月日: 2011-12-14
• [学会発表] Three dimensional force mapping and KPFM measurements on the CaF2/ Si(111) surface (2011)
  • 著者名/発表者名: M. Fukumoto and M. Abe et al.
  • 学会等名: 19th International Colloquium on Scanning Probe Microscopy(ICSPM19)
  • 発表場所: Hokkaido, Japan
  • 年月日: 2011-11-20